[发明专利]一种苹果表面缺陷检测系统和方法

权利要求书

1.一种苹果表面缺陷检测系统，其特征在于，

所述系统包括：传送装置（1），位于传送装置正上方的光照箱（2）所述光照箱（2）；

所述光照箱（2）内部下方安装有可见/近红外复合LED光源装置（3），内部上方正中央安装有点阵近红外结构光投射器（7），所述点阵近红外结构光投射器（7）一侧安装有黑白工业相机（4）和彩色工业相机（6）；

所述黑白工业相机（4）通过电缆连接到计算机（10）的近红外图像采集卡（8）上，所述彩色工业相机（6）通过电缆连接到计算机（10）的彩色图像采集卡上。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述黑白工业相机（4）安装有滤光片（5）。

3.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述可见/近红外复合LED光源装置（3）在传送装置（1）两侧各安装有一个。

4.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述可见/近红外复合LED光源装置（3）包括可见光LED（3.2）、近红外LED（3.3）、散热器（3.1）和开关电源（3.4），所述可见光LED（3.2）和近红外LED（3.3）固定在散热器（3.1）上并且通过导线与开关电源（3.4）连接。

5.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述点阵近红外结构光投射器（7）投射出的近红外点阵结构光光斑在参考平面上均匀分布。

6.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述点阵结构光中设置了四对光斑作为定位标记。

7.如权利要求5所述的系统，其特征在于，所述参考平面为传送装置（1）的上表面。

8.一种基于权利要求1所述系统的苹果表面缺陷监测方法，其特征在于，所述方法包括，

S1，利用黑白工业相机获取每个近红外点阵结构光光斑在参考平面的位置；

S2，利用彩色工业相机获取传送装置上的苹果的彩色图像，并通过阈值分割的方法去除苹果的背景区域以及分割出苹果区域中灰度值较低的感兴趣区域；

S3，利用带有滤光片的黑白工业相机获取投射在苹果表面上的近红外结构光光斑图像，对图像逐列进行扫描，在非感兴趣区域搜索两个距离最近光斑，通过将苹果表面的光斑位置信息与参考平面的光斑位置信息进行对比，获取苹果表面深度变化的信息以得到凹陷区域；

S4，将S2中的感兴趣区域与S3中的凹陷区域相比较，将感兴趣区域中与凹陷区域不重合的区域视为苹果表面的缺陷区域。

9.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述感兴趣区域包括缺陷区域和果梗/花萼区域。