[发明专利]氮化物半导体基板有效
申请号: | 201210300925.9 | 申请日: | 2008-03-17 |
公开(公告)号: | CN102856455A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 吉田治正;高木康文;桑原正和 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H01L33/20 | 分类号: | H01L33/20;H01S5/323 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 杨琦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 | ||
1.氮化物半导体基板,其特征在于,
具有:
GaN系半导体层,该GaN系半导体层在基底层上生长,沿厚度方向的截面基本上为三角形状,且所述GaN系半导体层呈周期性的条纹状,在该条纹的斜面上设置有凹凸面;以及
在所述GaN系半导体层上形成的由AlGaN或InAlGaN形成的上表面平坦的埋入层。
2.如权利要求1所述的氮化物半导体基板,其特征在于,
所述凹凸面为基本上沿着所述条纹的斜面的倾斜度的斜面,且由多个小斜面形成,所述小斜面的垂线方向在水平截面上遍及多个方向。
3.氮化物半导体基板,其特征在于,
具有:
GaN系半导体层;以及
在所述GaN系半导体层上形成的由AlGaN或InAlGaN形成的上表面平坦的埋入层,
所述GaN系半导体层具有多个突出的条纹,
在所述条纹的两侧面分别具有凹凸面。
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