[发明专利]一种多量程集成压力传感器芯片无效
申请号: | 201210302269.6 | 申请日: | 2012-08-23 |
公开(公告)号: | CN102798498A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 揣荣岩;王健;刘斌 | 申请(专利权)人: | 沈阳工业大学 |
主分类号: | G01L9/04 | 分类号: | G01L9/04;G01L1/22;B81B3/00 |
代理公司: | 沈阳智龙专利事务所(普通合伙) 21115 | 代理人: | 宋铁军;周楠 |
地址: | 110870 辽宁省沈*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多量 集成 压力传感器 芯片 | ||
1. 一种多量程集成压力传感器芯片,其特征在于:包括硅衬底(1),在硅衬底(1)上设置有不同量程压力传感器,称为小量程传感器(6)和大量程传感器(7),每个传感器由腐蚀孔(2)、膜片(3)、应变电阻(4)构成;在膜片(3)上面设有四个互相对称的应变电阻(4),四个应变电阻通过导线连接成惠斯通电桥,将压力转换成电压输出;膜片(3)与硅衬底(1)相连并构成腔体(8),膜片(3)支撑边缘设置有腐蚀孔(2)。
2.根据权利要求1的一种多量程集成压力传感器芯片,其特征在于:在硅衬底(1)上设置两个或两个以上不同量程压力传感器。
3.根据权利要求1或2的一种多量程集成压力传感器芯片,其特征在于:膜片(3)为方形、圆形或长方形。
4.根据权利要求1或2的一种多量程集成压力传感器芯片,其特征在于:小量程传感器腔体(8)底部设置过载保护结构(5),过载保护结构(5)与膜片(3)之间有间隙。
5.根据权利要求4的一种多量程集成压力传感器芯片,其特征在于:过载保护结构(5)是截面为三角形的多晶硅过载保护结构。
6.根据权利要求1或2的一种多量程集成压力传感器芯片,其特征在于:不同量程压力传感器采用相同的膜厚和腔体高度,通过改变膜片的长宽设计不同量程传感器,膜片面积小的为大量程传感器(7),膜片面积大的为小量程传感器(6),腔体制作采用牺牲层技术。
7.根据权利要求1或2的一种多量程集成压力传感器芯片,其特征在于:应变电阻(4)为重掺杂多晶硅纳米薄膜。
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