[发明专利]用于布线资源故障检测的配置方法

说明书

技术领域

本发明涉及现场可编程门阵列(FPGA)的布线资源故障检测技术领域，更具体地涉及一种对静态随机存储器(SRAM)基FPGA中布线资源故障进行检测的配置方法。

背景技术

现场可编程门阵列(FPGA)的用户可编程性和低开发成本使它成为实现现代电路和系统的一种重要技术。与专用集成电路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)相比，FPGA的研发成本低和开发周期短等特性使它成为实现现代数字电路和系统的一种重要核心技术，其市场占有额也在逐年增加。而对FPGA的测试工作也变得越来越重要，特别是对FPGA的布线资源故障检测。

一般来说，FPGA的测试分为中测和成测，即在FPGA芯片流片结束而没有划片时的测试和划片并封装后的测试。而对中测和成测都有很多不同针对性的测试模型。例如，对时钟网络故障的检测、对布线资源故障的检测、对I/O故障的检测和对LUT故障的检测等。而对布线资源故障的检测尤其关键，一个原因是布线资源是FPGA中实现信号互连功能的主要部分，另一个原因是对布线资源故障的有效检测是其他检测的前提保证。而FPGA中测试方法包括配置方法和激励方法，本发明就是针对布线故障检测的配置方法。

现有的布线资源故障检测方法或者采用自测试结构的配置方法，或采用多线段并行的配置方法，采用自测试结构的配置方法，会增加测试的配置次数，而采用多线段并行的配置方法，会增加对FPGA端口数量的要求。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明的目的在于提供一种对SRAM基现场可编程门阵列中布线资源故障进行检测的配置方法，以解决对SRAM基现场可编程门阵列布线资源故障检测时同时降低配置次数和端口数量的问题，提高FPGA资源故障检测的效率。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供了一种对现场可编程门阵列中布线资源故障进行检测的配置方法，该方法包括以下步骤：对上右及左下方向上开关布线资源的配置；对上左及右下方向上开关布线资源的配置；对上下及左右方向上开关布线资源的配置。

所述对上右及左下方向上开关布线资源的配置包括对普通开关布线资源的配置及对边界开关布线资源的配置。

所述对上左及右下方向上开关布线资源的配置包括对普通开关布线资源的配置及对边界开关布线资源的配置。

所述对上下及左右方向上开关布线资源的配置包括对普通开关布线资源的配置及对边界开关布线资源的配置。

所述对上右及左下方向上普通开关布线资源的配置，是将普通开关布线资源配置成为连接上右及左下方向连线的结构，优选地，将位于普通开关布线资源上方的连线组与位于普通开关布线资源右侧的连线组连接，以及将位于普通开关布线资源下方的连线组与位于普通开关布线资源左侧的连线组相连。

所述对上下及左右方向上普通开关布线资源的配置，是将普通开关布线资源配置成为连接上下及左右方向连线的结构，优选地，将位于普通开关布线资源上方的连线组位于普通开关布线资源左侧的连线组相连，以及将位于普通开关布线资源右侧的连线组与位于普通开关布线资源下方的连线组相连。

所述对上左及右下方向上普通开关布线资源的配置，是将普通开关布线资源配置成为连接上左及右下方向连线的结构，优选地，将位于普通开关布线资源上方的连线组与位于普通开关布线资源下方的连线组相连，以及将位于普通开关布线资源右侧的连线组与位于普通开关布线资源左侧的连线组相连。

(三)有益效果

本发明所提供的方法对每一个开关布线资源均配置3次，且没有采用自测试结构的配置方法，大大降低了配置次数；此外，本发明还将多个并行的线段首尾逐次连接成两个并行的线段，减少了对端口数量的需求。

附图说明

图1是开关布线资源的拓扑结构示意图；

图2是对上右及左下方向上普通开关布线资源配置的结构示意图；

图3是对上右及左下方向上布线资源配置的总体结构示意图；

图4是对上左及右下方向上普通开关布线资源配置的结构示意图；

图5是对上左及右下方向上布线资源配置的总体结构示意图；

图6是对上下及左右方向上普通开关布线资源配置的结构示意图；

图7是对上下及左右方向上布线资源配置的总体结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明作进一步的详细说明。