[发明专利]快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统

权利要求书

1.快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在于，该系统包括支撑杆(1)、转轴(2)、测试杆(3)、定位装置(4)、探头(6)和示波器(7)，所述转轴(2)设于所述支撑杆(1)的顶端，所述测试杆(3)的一端安装于所述转轴(2)上且能够绕所述转轴(2)转动，所述探头(6)固定于所述测试杆(3)的自由端，且所述探头(6)与所述示波器(7)电连接，所述测试杆(3)与所述转轴(2)的连接处设有所述定位装置(4)，所述定位装置(4)用于将所述测试杆(3)限定在所述测试杆(3)所在的一个平面内，且能够使所述测试杆(3)在任意位置固定。

2.根据权利要求1所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在于，所述系统还包括与所述支撑杆(1)的底端固接的底座(5)。

3.根据权利要求1所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在于，所述支撑杆(1)的高度可调。

4.根据权利要求1所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在于，所述系统还包括设于所述测试杆(3)上的长度调节装置(8)，用于调节所述测试杆(3)的长度。

5.快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法，该方法采用权利要求1所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，其特征在于，该方法包括如下步骤：

选定矩形校准平面的顶点为测量点；

将所述转轴(2)置于校准平面的中心，通过所述调节定位装置(4)使得所述测试杆(3)被限定在校准平面内，通过选择所述测试杆(3)的长度使得所述探头(6)能够到达校准平面的各顶点处；

在校准平面内转动所述测试杆(3)，使得所述探头(6)分别位于校准平面的各顶点处，通过所述探头(6)测量得到校准平面的各顶点处的场强值。

6.根据权利要求5所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法，其特征在于，通过所述长度调节装置(8)调节所述测试杆(3)的长度使得所述探头(6)能够到达校准平面的各顶点。

7.根据权利要求5所述的快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法，其特征在于，所述矩形校准平面包括正方形校准平面。