[发明专利]应用于EPD屏的波形调试方法有效
申请号: | 201210310449.9 | 申请日: | 2012-08-28 |
公开(公告)号: | CN102855847A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 包进 | 申请(专利权)人: | 无锡威峰科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/34 | 分类号: | G09G3/34 |
代理公司: | 无锡华源专利事务所 32228 | 代理人: | 孙力坚 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 应用于 epd 波形 调试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及电子显示领域,特别涉及一种应用于EPD屏的波形调试方法。
背景技术
EPD屏又称电子墨水屏,是一种利用电泳显示技术而制成的显示屏。电泳显示技术系将黑、白两色的带电颗粒封装于微胶囊结构中,由外加电场控制不同电荷黑白颗粒的升降移动,以呈现出黑白单色的显示效果。在电场的作用下,黑白两种不同的颗粒不停运动,当白色的颗粒上升到上表面时,所有的环境光照射到上表面被完全反射,就形成了白色的状态,也就是纸的状态;当交换电极后,两种颜色的颗粒会交换位置,白色的颗粒移动到下面,黑色的颗粒上升到上面,光被黑色的颗粒全部吸收,结果就导致黑色,也就形成了黑白显示。另外,在上表面也可以有混合的状态,两种不同的颗粒成比例的混合,这样可以形成黑白及有灰度层次的不同颜色。由于EPD技术可呈现出高反射率、高对比的黑白显示效果,同时有记忆效果,当把外加电场取消后,即时显示当前所呈现的显示,如同一张打印好的纸所显示的内容。由于具有双稳定性,在电源电场取消之后,仍然在EPD屏上将图像保留几个月或者几年。
EPD屏是由时序控制芯片控制TFT基板上的门电路控制芯片(Gate IC)和源极芯片(Source IC)对每个像素点连续施加电压冲击(20ms正负电压脉冲)而达到显示图像。如图1所示,纵坐标代表驱动电压,横坐标每一格代表的驱动时间是20ms。图1中有14格,因此驱动时间280ms。图中所示的这款EPD屏从白驱动到黑,用-15V的电压驱动280ms达到,当前温度是26℃。根据EPD屏、驱动电压和温度的不同,可以增加或减少驱动时间。
响应时间的测试是用于测算黑与白达到峰值时所需要的时间。如图2所示,在波形设置中将黑到白、白到黑同步从200ms开始驱动,依次增加20ms,并用校色仪(例如eye-one)测一次对比度,一直增加到760ms,将对比度数据记录下来,并做出曲线分析图。从而根据曲线达到饱和时的驱动时间来确定黑和白的响应时间。
保持时间的测试是利用响应时间测试得到的黑和白的响应时间,驱动屏幕由黑-白-黑-白,通过校色仪测出白的明度L*,并记录,放置2分钟后再次记录屏幕白的明度L*,并记录前后两次白的明度L*的值退△L*,根据值退△L*来确定白的保持时间。同理驱动屏幕由黑-白-黑-白-黑,并用校色仪测出黑的明度L*,并记录,放置2分钟后再次记录屏幕黑的明度L*,并记录记录前后两次黑的明度L*的值退△L*,根据值退△L*来确定黑的保持时间。
传统的EPD屏的波形调试分为三段:先在第一段中驱动到全黑,再在第二段中驱动到全白,最后在第三段中驱动到灰阶。如图3所示,驱动到全黑的响应时间需要440ms,驱动到全白的响应时间需要420ms。那么传统的EPD屏的波形组成即为:440ms的黑+420ms的白+驱动到灰阶所需要的黑。
发明内容
本发明的目的在于提供另一种应用于EPD屏的波形调试方法,旨在使EPD屏具有更优异的显示特性。
本发明的技术方案如下:
一种应用于EPD屏的波形调试方法,包括以下步骤:首先将EPD屏驱动到最稳定的偏黑灰阶,然后将EPD屏驱动到最稳定的偏白灰阶,最后将EPD屏驱动到灰阶;EPD屏的波形组成即为:最稳定偏黑灰阶的黑+最稳定偏白灰阶的白+驱动到灰阶所需要的黑。
所述最稳定的偏黑灰阶是对偏黑灰阶进行2分钟保持时间测试,选取偏黑灰阶中保持时间最稳定的灰阶。
所述最稳定的偏白灰阶是对偏白灰阶进行2分钟保持时间测试,选取偏白灰阶中保持时间最稳定的灰阶。
其进一步的技术方案为:
在调试比最稳定偏黑灰阶更深的灰阶时,分为三种调试方法:1.驱动到最稳定的偏黑灰阶+驱动到最稳定的偏白灰阶+VCOM时间+驱动到灰阶所需要的黑;2.直接驱动到黑;3.驱动到白后再驱动到黑。
在调试比最稳定偏白灰阶更白的灰阶时,分为三种调试方法:1.驱动到最稳定的偏黑灰阶+驱动到最稳定的偏白灰阶+VCOM时间+驱动到灰阶所需要的黑;2.直接驱动到白;3.驱动到黑后再驱动到白。
本发明的有益技术效果是:
采用本发明的波形调试方法,具有以下优点:1.驱动时间短,响应速度快;2.保持时间稳定;3.对比度高;4.EPD屏使用寿命长;5.功耗低;6.文字刷新流畅;7.测试人员调试周期缩短。
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