[发明专利]一种电容触摸屏装置缺陷检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电容式触摸屏装置缺陷检测方法，尤其是投射式电容式触摸屏扫描线电容检测方法。

背景技术

触摸屏由于其坚固耐用、反应速度快、节省空间等优点在各种电子设备领域得到了越来越多的应用。投射式电容触摸屏产品目前正在成为市场主流产品。其扫描原理如图1所示，在玻璃基板表面用ITO(铟锡氧化物)制成横纵交叠的电极阵列，横向和纵向ITO电极交叉处形成若干个互感电容，也即两组电极分别构成电容的两极，发生触摸时，触摸处相邻电极耦合情况产生变化，从而互电容值发生改变，通过扫描捕获到电容值的改变，即得到触摸位置。以一个4根行线、4根列线构成的触摸屏为例，行线和列线的电极；分别构成互感电容的两极，当手指触摸屏幕上的像素点103对应的位置时，像素点103附近的两个电极耦合发生变化，引起互感电容105值的变化，驱动电路102对行线，也即驱动线Drive Iine100分时依次施加驱动信号，对列线，也即感测线Sense Iine104逐列进行感测，感测信号通过运算放大器106并输出，通过检测对应电容值的变化得到触摸点的位置坐标。

触摸屏产品成型前需要对其电气特性如电容值进行测试，以保证产品良率。电容屏装置和电容屏控制芯片可能存在缺陷而导致电容检测值不变，即无论有无触摸，对应电容值为固定值或变化不明显。但现阶段触摸屏ITO蚀刻后仅仅能测试其导通和阻抗，而无法对扫描线电容进行测试。因此只能利用机械臂模拟手指在产品上进行划线、打点等动作来模拟实际人的操作方式，然后读取数据并处理，判定产品是否合格。这种方法效率低、且容易受外界干扰而产生误差。

还有一种测试技术是通过外接电容的方式，将扫描线待测电容、一个外接可调电容与耦合电容分别并联并进行运算处理后比较输出，通过分析结果与预设门槛值的比较来判断扫描电容值是否可以接受。此方法增加了额外的成本并且扩展性欠缺。

本申请即提出一种高效、易扩展的电容触摸屏缺陷检测方法，对扫描线电容进行检测。

发明内容

本发明的目的即为了克服现有技术的不足而提供一种电容触摸屏装置缺陷检测方法及采用该方法的电容触摸屏装置，能够检测投射电容触摸屏的电容分布，从而进一步检测触摸屏良率。

本发明的技术方案中，先依次驱动所有驱动线Drive Line，每次驱动一根驱动线，量取每根驱动线和感测线之间的互电容值作为基准，再改变同时驱动的驱动线根数，依次驱动所有驱动线，如每次驱动i根驱动线，再次量取驱动线和感测线之间的互电容值，将两次测量结果进行比较来判断是否有缺陷存在，其中i为小于驱动线总数的自然数。

电容触摸屏由于各种因素如相邻电极的断路、短路等，会导致互感电容存在缺陷，从而导致电容检测值无法正确检测到实际电容值，如电容值改变时，检测电容值不变或几乎不变，或者检测值出现非正常数值，如远大于或远小于正常的互电容值变化范围，而合格电容屏两次测量值差值通常控制在一个合理范围内。通过将测量结果的偏差与预设的门槛值进行比较，可以判断电容屏是否存在缺陷。

相对于现有技术，本发明提出的方法可设置程序自动控制，具有测量精确，效率高、扩展性好等优点。

附图说明

图1为电容触摸屏驱动原理示意。

图2为6*6的电容屏改变同时驱动的驱动线数量前后两次测量值差值列表。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。