[发明专利]位置识别系统、方法以及使用其的姿势识别系统、方法

权利要求书

1.一种位置识别系统，其特征在于，所述的位置识别系统包括：

一第一红外线发光二极管；

一第二红外线发光二极管；以及

一控制电路，耦接所述第一红外线发光二极管以及所述第二红外线发光二极管；

在一第一期间时，所述控制电路控制所述第一红外线发光二极管发射多数个不同强度的红外光，且所述控制电路控制所述第二红外线发光二极管为接收模式以进行红外线的接收，

其中，所述第一期间被分为P个子期间，其中，第i个子期间时，所述第一红外线发光二极管发射第i强度的红外光，

其中，在所述第一期间的第j子期间，且所述第二红外线发光二极管检测到一物体反射的红外光，所述控制电路依照所述第一红外线发光二极管所发射的第j强度的红外光的强度，判定所述物体在所述第一期间时，距离所述第一红外线发光二极管的距离，

在一第二期间时，所述控制电路控制所述第二红外线发光二极管发射多数个不同强度的红外光，且所述控制电路控制所述第一红外线发光二极管为接收模式以进行红外线的接收，

其中，所述第二期间被分为Q个子期间，其中，第k个子期间时，所述第二红外线发光二极管发射第k强度的红外光，

其中，在所述第二期间的第m子期间，且所述第一红外线发光二极管检测到所述物体反射的红外光，所述控制电路依照所述第二红外线发光二极管所发射的第m强度的红外光的强度，判定所述物体在所述第二期间时，距离所述第二红外线发光二极管的距离，

其中，所述控制电路根据所述物体对所述第一红外线发光二极管的距离，以及所述物体对所述第二红外线发光二极管的距离，判断所述物体的相对位置，

其中，i、j、k、m、P、Q为自然数，且0≦i、j≦P，0≦k、m≦Q。

2.根据权利要求1所述的位置识别系统，其特征在于，所述的位置识别系统还包括：

一第三红外线发光二极管；

其中，所述第三红外线发光二极管、所述第二红外线发光二极管以及所述第一红外线发光二极管的配置构成一三角形，

在所述第一期间时，所述控制电路控制所述第一红外线发光二极管发射多数个不同强度的红外光，且所述控制电路控制所述第二红外线发光二极管以及所述第三红外线发光二极管为接收模式以进行红外线的接收，

其中，所述第一期间被分为P个子期间，其中，第i个子期间时，所述第一红外线发光二极管发射第i强度的红外光，

其中，在所述第一期间的所述第j子期间，且所述第二红外线发光二极管或所述第三红外线发光二极管检测到一物体反射的红外光，所述控制电路依照所述第一红外线发光二极管所发射的第j强度的红外光的强度，判定所述物体在所述第一期间时，距离所述第一红外线发光二极管的距离，

在所述第二期间时，所述控制电路控制所述第二红外线发光二极管发射多数个不同强度的红外光，且所述控制电路控制所述第一红外线发光二极管以及所述第三红外线发光二极管为接收模式以进行红外线的接收，

其中，所述第二期间被分为Q个子期间，其中，第k个子期间时，所述第二红外线发光二极管发射第k强度的红外光，

其中，在所述第二期间的所述第m子期间，且所述第一红外线发光二极管或第三红外线发光二极管检测到所述物体反射的红外光，所述控制电路依照所述第二红外线发光二极管所发射的第m强度的红外光的强度，判定所述物体在所述第二期间时，距离所述第二红外线发光二极管的距离，

在一第三期间时，所述控制电路控制所述第三红外线发光二极管发射多数个不同强度的红外光，且所述控制电路控制所述第一红外线发光二极管以及所述第二红外线发光二极管为接收模式以进行红外线的接收，

其中，所述第三期间被分为R个子期间，其中，第n个子期间时，所述第三红外线发光二极管发射第n强度的红外光，

其中，在所述第三期间的第s子期间，且所述第一红外线发光二极管或所述第二红外线发光二极管检测到所述物体反射的红外光，所述控制电路依照所述第三红外线发光二极管所发射的第s强度的红外光的强度，判定所述物体在所述第三期间时，距离所述第三红外线发光二极管的距离，

其中，所述控制电路根据所述物体对所述第一红外线发光二极管的距离、所述物体对所述第二红外线发光二极管的距离、所述物体对所述第三红外线发光二极管的距离、所述第一红外线发光二极管的配置位置、所述第二红外线发光二极管的配置位置以及所述第三红外线发光二极管的配置位置，判断所述物体的相对位置，

其中，R、n、s为自然数，且0≦n、s≦R。