[发明专利]一种电容触摸屏温漂特性检测方法及检测系统有效
申请号: | 201210312703.9 | 申请日: | 2012-08-29 |
公开(公告)号: | CN102880366A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 张晋芳;章军富 | 申请(专利权)人: | 北京集创北方科技有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100088 北京市海淀区北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电容 触摸屏 特性 检测 方法 系统 | ||
1.一种电容触摸屏温漂特性检测方法,首先测得所有驱动线Drive line和感测线Sense line之间的互电容值作为基准,然后定时按一定的步长S对电极矩阵构成的电容进行采样测量,并计算采样电容值与对应坐标基准值之间的偏差,统计偏差值落在预设阈值范围[-Th,Th]之外的点数,该点数多于预设的标准值时,则判断触摸屏存在温漂。
2.如权利要求1所述的检测方法,其包括如下步骤:
首先,在不发生触摸的T0时刻,依次驱动M根驱动线Drive line,并对N根感测线Sense line逐列扫描,从而测得所有的互电容值Cij,并将其作为基准,并设置可信度系数C、步长S、阈值Th。
其次,在Ti时刻进行第i次采样,按如下方法选取采样点坐标检测互电容值Cxy;
x=i+j*S,j=0,1,…,[(N-i)/S]
y=i+k*S,k=0,1,…,[(M-i)/S]
其次,将Cxy与对应坐标基准电容值逐差,并统计偏差大于Th的点数n1及小于-Th的点数n2;
最后,所述预设的标准值基于预设的可信度系数C确定,按下式判断是否存在漂移,
n 1>X*Y*C,则存在正向温漂,
n 2>X*Y*C,则存在负向温漂,其中,X=[(N-i)/S]+1,Y=[(M-i)/S]+1。
3.如权利要求2所述的检测方法,当S次采样检测全部结束时,根据所有S次检测的结果进行判断,如果每次结果相同或大致相同,则判断温度漂移特性的检测结果可信。
4.如权利要求3所述的检测方法,步长S=3,阈值Th=50,可信度系数C=0.5。
5.如权利要求2或3所述的检测方法,按所述步骤重复测量n个周期,n个连续周期内检测结果均相同或大致相同时,判断检测结果为有效。
6.如权利要求5所述的检测方法,测量周期n=30。
7.一种采用如权利要求1-6任一项所述检测方法的电容触摸屏温漂特性检测系统,其包括控制模块、电容触摸屏、电容触摸屏驱动模块、以及存储模块,控制模块与触摸屏驱动模块相连,触摸屏驱动模块与触摸屏相连。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京集创北方科技有限公司,未经北京集创北方科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210312703.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。