[发明专利]增大测试信号频率的方法以及测试信号产生设备

说明书

技术领域

本发明涉及信号测试领域，更具体地说，本发明涉及一种增大测试信号频率的方法以及测试信号产生设备。

背景技术

在芯片或电路测试期间，需要产生测试信号。具体地说，例如，测试信号包括用于定时的时钟信号，而且时钟信号一般为方波信号。

并且，在芯片或电路测试期间，对于工作频率较高的芯片或电路，需要产生频率较高的时钟频率的时钟信号来进行定时。但是，测试机所产生的方波的最高频率是受到限制的。一般测试机都有最高的输出频率，例如50M。

在需要产生高于有最高的输出频率(例如50M)的方波信号时，如果不对测试机进行改进，则无法实现高于最高输出频率的方波信号。

因此，希望能够提供一种可以输出高于测试机的最高输出频率的方波信号的解决方案。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术中存在上述缺陷，提供一种能够扩大测试机所能实现的方波信号的最高输出频率的范围的增大测试信号频率的方法以及测试信号产生设备。

根据本发明的第一方面，提供了一种增大测试信号频率的方法，其包括：第一步骤：利用测试机的第一输出通道来产生第一初始测试信号；第二步骤：利用测试机的第二输出通道来产生第二初始测试信号，其中，所述第一初始测试信号的高电平的持续期处于所述第二初始测试信号的低电平的持续期内，并且所述第二初始测试信号的高电平的持续期处于所述第一初始测试信号的低电平的持续期内；初始测试信号组合步骤：将所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号组合以产生最终测试信号，其中，当所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号之一为高电平时，在相应持续期内最终测试信号为高电平。

优选地，所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号均为占空比为1/4的方波信号，并且所述第一初始测试信号的定时和所述第二初始测试信号的定时之间相差半个周期，由此所得到的最终测试信号是占空比为1/2的频率相比所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号增大一倍的方波信号。

根据本发明的第二方面，提供了一种增大测试信号频率的方法，其包括：初始测试信号产生步骤：利用测试机的多个输出通道来分别产生多个初始测试信号，其中，所述多个初始测试信号中的任何一个初始测试信号的高电平的持续期处于其它初始测试信号的低电平的持续期内；初始测试信号组合步骤：将所述多个初始测试信号进行组合以产生最终测试信号，其中，当所述多个初始测试信号中的任何一个初始测试信号为高电平时，在相应持续期内最终测试信号为高电平。

优选地，通过或逻辑门电路实现所述初始测试信号组合步骤。

优选地，通过相接多个驱动能力的通道来实现所述初始测试信号组合步骤。

根据本发明的第三方面，提供了一种测试信号产生设备，其包括：测试机，用于在第一输出通道和第二输出通道分别产生第一初始测试信号和第二初始测试信号，其中，所述第一初始测试信号的高电平的持续期处于所述第二初始测试信号的低电平的持续期内，并且所述第二初始测试信号的高电平的持续期处于所述第一初始测试信号的低电平的持续期内；或逻辑门电路，其两个输入端分别接所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号，其输出端输出最终测试信号。

优选地，所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号均为占空比为1/4的方波信号，并且所述第一初始测试信号的定时和所述第二初始测试信号的定时之间相差半个周期，由此所得到的最终测试信号是占空比为1/2的频率相比所述第一初始测试信号和所述第二初始测试信号增大一倍的方波信号。

根据本发明的第四方面，提供了一种测试信号产生设备，其特征在于包括：测试机，用于在多个输出通道分别产生第多个初始测试信号，其中，所述多个初始测试信号中的任何一个初始测试信号的高电平的持续期处于其它初始测试信号的低电平的持续期内；或逻辑门电路，其多个输入端分别接多个初始测试信号，其输出端输出最终测试信号。

根据本发明，可通过牺牲测试机的测试通道来增加测试频率，由此提供了一种能够扩大测试机所能实现的方波信号的最高输出频率的范围的增大测试信号频率的方法以及测试信号产生设备。

附图说明

结合附图，并通过参考下面的详细描述，将会更容易地对本发明有更完整的理解并且更容易地理解其伴随的优点和特征，其中：

图1示意性地示出了根据本发明第一实施例的增大测试信号频率的方法的示意图。

图2示意性地示出了根据本发明第三实施例的测试信号产生设备的框图。