[发明专利]三维偏置印录存储器无效
申请号: | 201210315596.5 | 申请日: | 2012-08-30 |
公开(公告)号: | CN103681679A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 张国飙 | 申请(专利权)人: | 成都海存艾匹科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/112 | 分类号: | H01L27/112;H01L21/8246 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610041 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 偏置 存储器 | ||
1.一种三维偏置印录存储器,其特征在于包括:
一半导体衬底;
多个堆叠在该衬底上并与之耦合的存储层,所述多个存储层相互堆叠,每个存储层含有至少一层数据录入膜,该数据录入膜中的图形代表一数码阵列;
一可设置输入/输出,该可设置输入/输出根据该存储器中数码阵列序列来设置该存储器的输入/输出。
2.根据权利要求1所述的存储器,其特征还在于包括:一存储手段,该存储手段存储与所述数码阵列序列相关的信息。
3.一种三维偏置印录存储器,其特征在于包括:
一半导体衬底;
多个堆叠在该衬底上并与之耦合的存储层,所述多个存储层相互堆叠,每个存储层含有至少一层数据录入膜,该数据录入膜中的图形代表一数码阵列;
在同一批次所述三维偏置印录存储器中,所有存储器均含有同样一组数码阵列集合;在至少两个存储器中,数码阵列序列不同。
4.根据权利要求3所述的存储器,其特征还在于包括:一可设置输入/输出电路,该可设置输入/输出电路根据该存储器中数码阵列序列设置该存储器的输入/输出。
5.根据权利要求3所述的存储器,其特征还在于:
所述批次中含有第一和第二存储器,该第一和第二存储器均含有第一和第二存储层,所述第二存储层位于所述第一存储层之上;其中,
所述第一存储器中的所述第一存储层存储第一数码阵列,所述第一存储器中的所述第二存储层存储第二数码阵列;
所述第二存储器中的所述第一存储层存储第二数据图形,所述第二存储器中的所述第二存储层存储第一数据图形。
6.根据权利要求3所述的存储器,其特征还在于:
所述批次中含有第一和第二存储器,所述第一和第二存储器均含有一存储层,该存储层含有第一和第二数据录入膜,所述第一数据录入膜位于所述第二数据录入膜之上;其中,
所述第一存储器中的所述第一数据录入膜存储第一数码阵列,所述第一存储器中的所述第二数据录入膜存储第二数码阵列;
所述第二存储器中的所述第一数据录入膜存储第二数码阵列,所述第二存储器中的所述第二数据录入膜存储第一数码阵列。
7.根据权利要求1和3所述的存储器是一个三维存储封装的一部分,该三维存储封装的特征还在于包括:多个相互堆叠的三维偏置印录存储器。
8.一种制造三维偏置印录存储器的方法,其特征在于包括如下步骤:
1)在一半导体衬底上形成一衬底电路;
2)在该衬底电路上方形成一存储层,该存储层含有至少第一数据录入膜,在该第一数据录入膜中形成数据图形时,该衬底与一数据图形承载装置的第一位置对准;
3)在第一数据录入膜上方形成第二数据录入膜,在该第二数据录入膜中形成数据图形时,该衬底与所述数据图形承载装置的第二位置对准。
9.根据权利要求8所述的存储器制造方法,其特征还在于:该存储器所需数据图形承载装置的数目小于该存储器中数据录入膜的数目。
10.根据权利要求8所述的存储器制造方法,其特征还在于:所述数据图形由光刻法(photo-lithography)或压印法(imprint-lithography)形成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的