[发明专利]高频内匹配功率器件的封装方法有效
申请号: | 201210319726.2 | 申请日: | 2012-08-31 |
公开(公告)号: | CN102832145A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 罗卫军;陈晓娟;杨成樾;刘新宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/50 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100029 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 高频 匹配 功率 器件 封装 方法 | ||
1.一种高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于,包括:
将内匹配电路通过金锗合金共晶在管壳内;
将功率器件和输入输出匹配电容通过金锡合金共晶在管壳内;
将功率器件、输入输出匹配电容及内匹配电路通过金丝电学互连;
将内匹配电路和管壳管脚通过金带电学互连。
2.根据权利要求1所述的高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于,所述将内匹配电路通过金锗合金共晶在管壳内包括:
将共晶仪的温度升至350-380的温度范围内,在氮气保护的氛围下,将用于构成内匹配电路的输入和输出内匹配电路通过金锗合金共晶在管壳内。
3.根据权利要求2所述的高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于:
在将所述内匹配电路共晶在管壳内时,左右摩擦内匹配电路,从而保证内匹配电路与管壳紧密的粘贴在一起。
4.根据权利要求1所述的高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于,所述将功率器件和输入输出匹配电容通过金锡合金共晶在管壳内包括:
将共晶仪的温度设定在250-280度的温度范围内,在氮气保护的氛围下,将用于构成输入输出匹配电容的第一输入匹配电容、第二输入匹配电容及输出匹配电容通过金锡合金共晶在管壳内;
将共晶仪的温度设定在250-280度的温度范围内,在氮气保护的氛围下,将功率器件通过金锡合金共晶在管壳内。
5.根据权利要求4所述的高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于:
在将所述功率器件和输入输出匹配电容共晶在管壳内时,左右摩擦功率器件和输入输出匹配电容,从而保证功率器件和输入输出匹配电容与管壳紧密的粘贴在一起。
6.根据权利要求5所述的高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于:
所述输入输出匹配电容采用芯片电容或陶瓷电容。
7.根据权利要求1所述的高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于,所述将功率器件、输入输出匹配电容及内匹配电路通过金丝电学互连包括:
采用金丝键合仪,将功率器件的输入输出电极和输入输出匹配电容通过金丝键合连接;
采用金丝键合仪,将输入输出匹配电容和内匹配电路通过金丝键合连接。
8.根据权利要求7所述的高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于:
所述采用金丝键合仪键合连接时,同一位置处不同金丝的长度和角度一致。
9.根据权利要求8所述的高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于:
所述金丝的直径为25um。
10.根据权利要求1所述的高频内匹配功率器件的封装方法,其特征在于,所述将内匹配电路和管壳管脚通过金带电学互连包括:
采用金带键合仪,将内匹配电路和管壳输入输出管角之间通过100um宽的金带进行键合连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造