[发明专利]软缓存处理的方法及设备在审
申请号: | 201210320653.9 | 申请日: | 2012-08-31 |
公开(公告)号: | CN103024820A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 李迎阳;孙程君 | 申请(专利权)人: | 北京三星通信技术研究有限公司;三星电子株式会社 |
主分类号: | H04W28/14 | 分类号: | H04W28/14;H04W72/04;H04L1/00 |
代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 郑瑜生 |
地址: | 100125 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 缓存 处理 方法 设备 | ||
1.一种软缓存处理的方法,其特征在于,包括以下步骤:
基站为用户设备UE分配传输资源,当所述UE载波聚合CA的多个Cell的上行下行配置不同时,根据软缓存的参数处理软缓存,其中软缓存的参数由所述UE的Pcell和/或Scell上下行配置确定,其后对物理下行共享信道PDSCH进行速率匹配;
所述基站通过物理下行控制信道PDCCH和PDSCH向所述UE发送数据。
2.如权利要求1所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述软缓存的参数为每个Cell实际的最大下行HARQ过程数,根据所述实际的最大下行HARQ过程数处理软缓存。
3.根据权利要求1所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述软缓存的参数为所述Scell或所述Pcell的上行下行配置在LTE TDD版本10中定义的最大下行HARQ过程数,根据所述Scell或所述Pcell的上行下行配置在LTE TDD版本10中定义的最大下行HARQ过程数处理软缓存。
4.根据权利要求1所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述软缓存的参数为预设的最大下行HARQ过程数固定值,根据所述预设的最大下行HARQ过程数固定值处理软缓存。
5.根据权利要求4所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述固定值为8。
6.根据权利要求1所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述软缓存的参数为所述Pcell和Scell各自的上行下行配置在LTE TDD版本8中的最大下行HARQ过程数的较大值,根据所述Pcell和Scell各自的上行下行配置在LTE TDD版本8中的最大下行HARQ过程数的较大值处理软缓存。
7.根据权利要求1所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述软缓存的参数为用于确定HARQ-ACK定时关系的TDD上下行配置的最大下行HARQ过程数,根据所述用于确定HARQ-ACK定时关系的TDD上下行配置的最大下行HARQ过程数处理软缓存。
8.根据权利要求1所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述软缓存的参数为其中,根据确定HARQ-ACK定时关系的TDD上下行配置的最大下行HARQ过程数计算得到:
对Scell的下行子帧是Pcell的下行子帧的超集的情况,等于
对其他情况,等于
9.根据权利要求1所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述软缓存的参数为确定HARQ-ACK定时关系的TDD上下行配置的最大下行HARQ过程数和变化之后的最大下行HARQ过程数上限参数其中,对Scell的下行子帧是Pcell的下行子帧的子集的情况,和Scell的下行子帧既不是Pcell的下行子帧的子集也不是Pcell的下行子帧的超集的情况,并且当Scell的上下行配置是0或者6时,否则
10.根据权利要求1所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述软缓存的参数为和其中,
根据确定HARQ-ACK定时关系的TDD上下行配置的最大下行HARQ过程数计算得到:
对Scell的下行子帧是Pcell的下行子帧的超集的情况,等于
对其他情况,等于
根据以下方式得到:
对Scell的下行子帧是Pcell的下行子帧的子集的情况,和Scell的下行子帧既不是Pcell的下行子帧的子集也不是Pcell的下行子帧的超集的情况,并且当Scell的上下行配置是0或者6时,否则
11.一种软缓存处理的方法,其特征在于,包括以下步骤:
UE接收基站为其分配的传输资源信息,当所述UE载波聚合CA的多个Cell的上行下行配置不同时,根据软缓存的参数处理软缓存,其中软缓存的参数由所述UE的Pcell和/或Scell上下行配置确定;
UE根据所述传输资源和处理软缓存的参数,接收所述基站发送的物理下行控制信道PDCCH和物理下行共享信道PDSCH。
12.如权利要求11所述的软缓存处理的方法,其特征在于,所述软缓存的参数为每个Cell实际的最大下行HARQ过程数,根据所述实际的最大下行HARQ过程数处理软缓存。
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