[发明专利]一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法无效

专利信息
申请号: 201210323358.9 申请日: 2012-09-04
公开(公告)号: CN102866342A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 马跃;崔成丽;夏建汉 申请(专利权)人: 欧贝黎新能源科技股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 226600 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 太阳能 组件 电势 诱导 衰减 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法,其特征在于它的测试组件是由铝箔(1)、水膜(2)、玻璃(3)、铝框(4)、太阳能电池板(5)、EVA(6)和TPT(7)组成,玻璃(3)、EVA(6)和TPT(7)依次叠放,且玻璃(3)、EVA(6)和TPT(7)的两端设置有铝框(4),玻璃(3)与EVA(6)之间设置有太阳能电池板(5),玻璃(3)上端的铝框(4)之间设置有铝箔(1)、水膜(2),且铝箔(1)设置在水膜(2)上;测试组件设置在恒温恒湿箱(8)内。

2.根据权利要求1所述的一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法,其特征在于它的测试方法为:(a)、准备3块同种规格的组件,随机抽取1块作为控制件,另外2块作为待测组件;

(b)、首先将组件进行一定强度的日光照曝晒预处理,预处理结束之后进行初测,包括组件的外观、绝缘性能、电性能、EL测试和湿漏电流测试;

(c)、初测通过后,开始试验,将待测组件输出端的一端和铝框与高压电源的正负极相连,对待测组件施加-2000V~+2000V的偏压,对边框进行接地处理,通过电压控制器保证所提供电压恒定;

(d)、根据需求,施加负偏压时铝框接“+”极,组件输出端接“-”极;

(e)、如需高温高湿条件,通过恒温恒湿箱调节控制,控制件置于同样环境下,不施加偏压;

(f)、试验过程中,记录漏电流数值,试验结束之后,将组件取出恢复一段时间后进行绝缘性能、EL测试、湿漏电和电性能测试。

3.根据权利要求1所述的一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法,其特征在于所述的测试方法主要采用的仪器是恒温恒湿箱、绝缘耐压测试仪、高压电源、电压表、电压控制器,恒温恒湿箱用来模拟一定温度和湿度的试验环境;绝缘耐压测试仪用来测试组件的绝缘性能;高压电源用来提供一定数值的电压值-2000V~+2000V;湿漏电流是指电池组件与接地边框之间形成的漏电流,通过组件与地面之间连接一个电阻测量电压方法来测定;电压控制器用来检测所提供电压的稳定性,保证测试的准确性。

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