[发明专利]磁共振设备内检查对象的部分区域的成像方法

权利要求书

1.一种用于在至少两个测量层（51.1、51.2）上将磁共振设备内的检查对象的部分区域成像的方法，其中部分区域（51）至少部分地布置在磁共振设备（5）的视野的边缘上，所述方法带有如下步骤：

-选择待测量的部分区域（51），

-对于每个部分区域（51）的测量层的每一个布置在视野边缘上的待优化的体素施加每一个梯度场的梯度（RO1.1、RO2.1、RO1.2、RO2.2、RO1.3、RO2.3、PE1、S1.1、S2.1、S1.2、S2.2、S1.3、S2.3），所述梯度确定为使得在视野的边缘上的所述待优化的体素的每个上由于梯度场的非线性所导致的失真以及由于B₀场不均匀性所导致的失真抵消，

-通过使用对于每个待优化的体素施加的梯度（RO1.1、RO2.1、RO1.2、RO2.2、RO1.3、RO2.3、PE1、S1.1、S2.1、S1.2、S2.2、S1.3、S2.3），通过多层测量采集部分区域（51）的磁共振数据，和

-由磁共振数据确定检查对象（U）的部分区域（51）的图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其中通过所施加的梯度（RO1.1、RO2.1、RO1.2、RO2.2、RO1.3、RO2.3、PE1、S1.1、S2.1、S1.2、S2.2、S1.3、S2.3）产生的梯度场包括读取梯度场和/或层选择梯度场。

3.根据前述权利要求中一项所述的方法，其中所施加的梯度（RO1.1、RO2.1、RO1.2、RO2.2、RO1.3、RO2.3、PE1、S1.1、S2.1、S1.2、S2.2、S1.3、S2.3）的确定包括：

-确定在视野边缘上的各体素上的相对梯度误差，

-确定在视野边缘上的各体素上的B₀场不均匀性，和

-根据相对梯度误差和B₀场不均匀性确定所施加的梯度（RO1.1、RO2.1、RO1.2、RO2.2、RO1.3、RO2.3、PE1、S1.1、S2.1、S1.2、S2.2、S1.3、S2.3）。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，梯度场的梯度G根据下式确定：

G=-dB₀(Δx,Δy,Δz)/c(Δx,Δy,Δz)（1）

其中dB₀是在视野边缘上的所选择的体素(Δx,Δy,Δz)上的B₀场不均匀性，且c是在视野边缘上的所选择的体素(Δx,Δy,Δz)上的相对梯度误差。

5.根据前述权利要求中一项所述的方法，其特征在于，检查对象（U）的部分区域（51）包括患者的布置在磁共振设备（5）的视野边缘上的解剖结构。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，解剖结构包括患者的手臂。

7.根据前述权利要求中一项所述的方法，其特征在于，磁共振设备（5）具有用于拍摄检查对象（U）的隧道形开口，其中视野的边缘包括沿隧道形开口的内表面的外罩区域。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，外罩区域的外罩厚度大约为5cm。

9.根据前述权利要求中一项所述的方法，其特征在于，所述磁共振数据在相对于检查对象（U）的横向平面内被采集。

10.根据前述权利要求中一项所述的方法，其特征在于，根据检查对象（U）的部分区域（51）的图像确定对于正电子发射断层成像的衰减校正。