[发明专利]具备位置检测功能的相机模块连续测试及调焦装置有效

专利信息
申请号: 201210328685.3 申请日: 2012-09-06
公开(公告)号: CN102998892A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 金大凤 申请(专利权)人: 金大凤
主分类号: G03B43/00 分类号: G03B43/00;G03B13/18
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 杨生平;钟锦舜
地址: 韩国庆*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 具备 位置 检测 功能 相机 模块 连续 测试 调焦 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种相机模块连续测试及调焦装置,特别是涉及对多个相机模块连续执行与组装到数码相机或手机等的相机模块相关的图像测试、焦点测试及焦点调整、且具备通过位置检测而有助于进行精密的测试及焦点调整的位置检测功能的相机模块连续测试及调焦装置。

背景技术

通常,用于数码相机或手机用相机的相机模块由用于装配图像传感器的壳体和组装到图像传感器前方的镜头组成,其组成能使图像传感器对通过镜头输入的图像进行数字化。

这样的相机模块的种类大致区分为FF型(Fixed Focus Type,固定对焦型)和AF型(Auto Focus Type,自动对焦型)。FF型是固定成一个焦距的模块,AF型是虽然基本的固定焦距已定、但是能够通过对镜头部施加电流或电压而驱动镜头部内所设置的驱动器来改变焦距的模块。AF型相机模块组成如下:由多个镜头构成镜头系统,并因具备VCM(Voice Coil Motor,音圈电机)等驱动器,能够挪动各个镜头而改变其相对距离,由此调整光学焦距。

上述相机模块在组装到数码相机或手机之前会执行相机模块本身以及所述光学焦距的调整过程是否正常的测试。

即,根据镜头和图像传感器之间间距的差异,设定输入到图像传感器的画像的清晰度、色度、亮度等,因此,为了得到固定且清晰的图像,利用相机模块测试及调焦装置,实施测试相机模块是否正常驱动的过程、以及实施在判断焦点有无异常后且在焦点有异常的情况下调节焦点的调整过程,然后出厂。

图1是通常的相机模块测试及调焦装置的结构图,由在主机10上设有装配相机模块7的装配架6、配置在该装配架6的上方而能够用相机模块7摄影的摄影对象物1、以及与装配在所述装配架6上的相机模块7连接的图像处理装置组成。此时,所述摄影对象物1是按照合乎相机模块7的焦距的方式与装配架6隔开一定距离配置,图像处理装置是按照在将相机模块7装配到所述装配架6的状态下与相机模块7连接的方式构成。

在这样的相机模块测试及调焦装置中,为了进行所述相机模块7的焦点测试,应确保所述装配架6与摄影对象物1的距离大致为相机模块7的焦距,因而主机10的大小变得很大。因此,近年来,开发并广泛使用如下相机模块测试及调焦装置:即在用于装配相机模块7的装配架6的上部设置光学系统5,以收缩相机模块7的焦距,由此能够将摄影对象物1配置在相机模块7的近处而缩小主机10的大小。

利用所述相机模块测试及调焦装置的具体测试过程包括:对相机模块的开/短路测试、电源线的电阻值测定、耗电测试、输入输出泄漏电流测试等,通过这些测试来判断相机模块是否不良。

此外,作为在相机模块出厂之前实施的焦点测试及调整过程,包括:按照合乎特定固定焦距的方式而精密旋转镜头以确定连接深度的固定对焦调整、图像测试、AF驱动测试等。所述对焦是对镜头的固定焦点进行测试的过程,图像测试是精密分析相机模块的输出图像而测试有无单位像素缺陷、划痕或颗粒等缺陷的过程,AF驱动测试是驱动相机模块本身具有的VCM等驱动部来实现的测试自动对焦功能的操作有无异常的过程。

但是,以往,单一相机模块测试及调焦装置,只能对一个相机模块实施测试及调整过程,因此,不能同时对多个相机模块进行连续的测试及调整过程,在需要实施多个相机模块的测试的情况下,所需测试时间很长,由此具有测试率下降的问题。

另外,为了对相机模块进行焦点调整,需要使焦点调整用夹头下降至所要测试的相机模块的镜头的近处来进行焦点测试及调整,但是在使夹头下降的过程中不能进行以使夹头和相机模块的稳定接触为目的精密调整,从而具有常常发生如下情况的问题:由于夹头对镜头产生的接触压力,难以进行正确的焦点测定,而焦点调整变得不良;或者在所述夹头过度下降的情况下,相机模块的镜头被破坏。

此外,夹头是在其下端形成圆头突起,所述圆头突起与在所述相机模块的上端形成的镜头筒的凹槽结合,而所述夹头在旋转时使所述镜头筒旋转,调节相机模块的镜头位置,但因精密结合所述圆头突起与凹槽的过程困难,从而通常通过手动操作进行配置,使得相机模块的圆头突起与镜头筒的凹槽吻合。

在通过这样的手动操作装配相机模块、按照凹槽与圆头突起彼此吻合的方式进行配置的情况下,精度显著下降,夹头在下降时,因振动而相机模块从原来位置偏离,圆头突起和凹槽接触得彼此不吻合,由于这样的情况相当多,对其进行再调整等效率低的操作时间增加,因此所需测试时间仍很长,而导致测试率下降、精密测定效率下降的问题。

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