[发明专利]存储器芯片及其操作方法

权利要求书

1.一种存储器芯片的操作方法，该存储器芯片包括多个焊垫，其特征在于，该方法包括：

接收一测试指令；

根据该测试指令由该多个焊垫输出多个第一测试信号，其中任意两实体相邻的该多个焊垫所对应的该多个第一测试信号是彼此互补的；以及

根据该测试指令，接着该多个第一测试信号之后由该多个焊垫输出多个第二测试信号，其中对应各该多个焊垫的该第一测试信号以及该第二测试信号是彼此互补的。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该多个焊垫的开路及短路状态可根据该多个焊垫读取的数据来检验。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判断该多个第一测试信号以及该多个第二测试信号是否成功地由该多个焊垫读取的该步骤更包括判断根据该多个焊垫的一逻辑序列对应的该多个第一测试信号以及该多个第二测试信号所结合产生的一测试二进制代码是否由该多个焊垫所读取。

4.一种具有多个焊垫的存储器芯片，其特征在于，该存储器芯片包括：

一指令译码单元，用以接收一测试指令；以及

一预期数据产生器，用以根据该测试指令由该多个焊垫依序分别输出多个第一测试信号以及多个第二测试信号，其中任意两实体相邻的该多个焊垫所对应的该多个第一测试信号是彼此互补的，且对应各该多个焊垫的该第一测试信号以及该第二测试信号是彼此互补的。

5.根据权利要求4所述的存储器芯片，其特征在于，该指令译码单元译码该测试指令并据以输出一控制信号，且该预期数据产生器根据该控制信号输出该多个第一测试信号以及该多个第二测试信号。

6.根据权利要求4所述的存储器芯片，其特征在于，该测试指令是由一输入/输出焊垫输入至该指令译码单元，且该指令译码单元是根据一频率信号译码该测试指令。