[发明专利]一种光子晶体光纤温度传感探头及其测量系统

权利要求书

1.一种光子晶体光纤温度传感探头，其特征在于，包括：LMA-8全内反射型光子晶体光纤，所述LMA-8全内反射型光子晶体光纤的后端面镀有银膜；所述LMA-8全内反射型光子晶体光纤的包层内填充氯仿、甲苯和乙醇温度敏感混合溶液，其中，

所述氯仿、甲苯和乙醇的热敏系数分别为-6.328×10^-4/K、-5.273×10^-4/K和-3.940×10^-4/K，比所述纯石英高出两个数量级。

2.根据权利要求1所述的一种光子晶体光纤温度传感探头，其特征在于，

采用毛细现象或真空抽压的方法将所述氯仿、甲苯和乙醇温度敏感混合溶液填充进所述LMA-8全内反射型光子晶体光纤。

3.一种光路测量系统，其特征在于，所述光路测量系统包括：光子晶体光纤温度传感探头和温度控制装置，

所述温度控制装置调节所述光子晶体光纤温度传感探头内的温度敏感混合溶液的温度，所述光子晶体光纤温度传感探头通过单模光纤熔接点耦合到第一单模光纤跳线的一端；所述第一单模光纤跳线的另一端连接光纤环形器；所述光纤环形器的一端通过第二单模光纤跳线连接功率计；所述光纤环形器的另一端通过第三单模光纤跳线连接半导体激光光源；

所述半导体激光光源发射光信号，经过所述光纤环形器耦合入所述光子晶体光纤温度传感探头；所述光信号经过所述银膜反射后重新经过所述光子晶体光纤温度传感探头进入所述光纤环形器，下端口耦合输出，所述功率计探测输出光信号的强度。

4.根据权利要求3所述的一种光路测量系统，其特征在于，所述第一单模光纤跳线、第二单模光纤跳线和第三单模光纤跳线为：1550nm的单模光纤跳线，

相应的，所述半导体激光光源为：1550nm的半导体激光光源。