[发明专利]激光二维样板测量仪校准用量块架

说明书

技术领域

本发明涉及一种激光二维样板测量仪校准用量块架，用于进口激光二维样板测量仪的精度指标校准。

背景技术

由于激光二维样板测量仪属于坐标测量的一个小分支，其精度校准适于坐标测量机校准规范的有关条款，根据三坐标测量机校准规范，采用三等量块对其精度警醒校准。参照三坐标测量机校准规范，其激光二维样板测量仪的精度只是为（30+L/50）μm，该激光二维样板测量仪的校准完全可以采用三等量块作为精度指标校准的计量标准，但由于该激光二维样板测量仪的工作台为垂直玻璃工作台，使得量块无法固定安装。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种激光二维样板测量仪校准用量块架，该激光二维样板测量仪校准用量块架解决在垂直工作台情况下量块的固定安装的同时，还可以满足激光二维样板测量仪对量块的激光扫描测量，以实现对其精度指标的校准。

为解决以上问题，本发明的具体技术方案如下：一种激光二维样板测量仪校准用量块架，在矩形的量块架的表面设有7个长条形滑道，其中滑道Ⅰ为水平直线，滑道IV和滑道V为两条平行设置的竖直线，滑道Ⅱ、滑道Ⅲ、滑道Ⅵ和滑道Ⅶ分别与水平面成30°、40°、120°和140°；七个尺寸不同的量块分别插入到七个滑道中，并且滑道上的滑块可以互换。

 所述的量块架的尺寸为1000mm×1000mm，每个滑道的长度为705mm，滑道的宽度为10mm；其中滑道Ⅰ的左端距下边缘150mm，距左边缘150mm；滑道Ⅱ的左端距左边缘160mm，距下边缘220mm；滑道Ⅲ的左端距左边缘140mm，距下边缘300mm；滑道IV距下边缘200mm，距左边缘250mm；滑道V距下边缘200mm，距左边缘750mm；滑道Ⅵ距右边缘160mm，距下边缘300mm；滑道Ⅶ距右边缘140mm，距下边缘220mm。

所述的量块为矩形，并设有七个规格，其长度分别为700mm、500mm、400mm、300mm、250mm、150mm和40mm。

该激光二维样板测量仪校准用量块架采用上述结构，可以使二维样板测量仪通过不同量块不同位置的扫描，从而确定二维样板测量仪的扫描误差。

附图说明

图1为激光二维样板测量仪校准用量块架的结构示意图。

图2为激光二维样板测量仪校准用量块架的应用示意图。

其中1、控制柜体；2、玻璃工作台；3、测量扫描侧头架；4、激光扫描侧头；5、校准用量块架；6、量块；7、量块架支撑工作台。

具体实施方式

如图1所示，一种激光二维样板测量仪校准用量块架，在矩形的量块架的表面设有7个长条形滑道，其中滑道Ⅰ为水平直线，滑道IV和滑道V为两条平行设置的竖直线，滑道Ⅱ、滑道Ⅲ、滑道Ⅵ和滑道Ⅶ分别与水平面成30°、40°、120°和140°；七个尺寸不同的量块分别插入到七个滑道中，并且滑道上的滑块可以互换。

所述的量块架的尺寸为1000mm×1000mm，每个滑道的长度为705mm，滑道的宽度为10mm；其中滑道Ⅰ的左端距下边缘150mm，距左边缘150mm；滑道Ⅱ的左端距左边缘160mm，距下边缘220mm；滑道Ⅲ的左端距左边缘140mm，距下边缘300mm；滑道IV距下边缘200mm，距左边缘250mm；滑道V距下边缘200mm，距左边缘750mm；滑道Ⅵ距右边缘160mm，距下边缘300mm；滑道Ⅶ距右边缘140mm，距下边缘220mm。

 所述的量块为矩形，并设有七个规格，其长度分别为700mm、500mm、400mm、300mm、250mm、150mm和40mm。

如图2所示，二维样板测量仪校准时，将校准用量块架放在支撑工作台上，将其与被校准二维样板测量仪玻璃工作台靠近，并至中心。将量块置于量块架的凹槽内。

校准时，首先将700mm量块放在滑道Ⅰ内，启动二维样板测量仪，打开测量软件，仪器自校准后，通过控制系统及软件，操作二维样板测量仪激光扫描测头对置于该量块内，进行扫描，其结果不应超过最大允许误差。扫描完成后，分别将量块置于滑道Ⅱ、滑道Ⅲ、滑道IV、滑道V、滑道Ⅵ和滑道Ⅶ，并依此对该量块进行扫描。

同理，分别将其他规格的量块也分别置于以上七个滑道内，共测得49个测量结果，如均不超过样板测量仪的最大允许误差，则视为二维样板测量仪处于合格状态。