[发明专利]过电流保护电路有效
申请号: | 201210339571.9 | 申请日: | 2012-09-13 |
公开(公告)号: | CN103001202A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 川本一平;久田刚巧;石川富久夫;杉浦晃 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装;安电株式会社 |
主分类号: | H02H9/02 | 分类号: | H02H9/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘瑜;王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电流 保护 电路 | ||
1.一种过电流保护电路,包括:
负载驱动部分,用于驱动负载(3);
导线(4),与所述负载(3)和所述负载驱动部分耦合;
电流检测部分(6),用于检测流入所述负载(3)的电流的负载电流值,所述电流检测部分(6)包括AD转换器(6d)和电流值计算电路(6e),所述AD转换器(6d)接收与所述负载电流值相对应的检测信号并且对所述检测信号进行模数转换,所述电流值计算电路(6e)根据所述AD转换器(6d)所转换的所述检测信号来计算所述负载电流值;
加法和减法部分(7),用于基于所述电流检测部分(6)检测到的所述负载电流值确定加减值,存储使用所述加减值的加法和减法的积分结果,并发送所述积分结果,所述加法和减法部分(7)包括加值确定电路(7a),所述加值确定电路(7a)基于所述电流值计算电路(6e)计算出的所述负载电流值以及指示所述负载电流值与所述加减值中的加值之间的关系的函数表达式或信息来确定所述加值;
比较电路(8),用于将从所述加法和减法部分(7)发送的所述积分结果与阈值进行比较,并发送指示过电流检测结果的信号;以及
控制电路(5),用于基于从所述比较电路(8)发送的指示所述过电流检测结果的所述信号来控制所述负载驱动部分,以限制流入所述负载(3)和所述导线(4)的所述电流,并使得保护对象免受过电流。
2.根据权利要求1所述的过电流保护电路,
其中,所述负载驱动部分包括半导体开关(2),
其中,所述电流检测部分(6)还包括温度检测电路(6b),所述温度检测电路(6b)发送与所述半导体开关(2)的温度相对应的温度检测信号,
其中,所述AD转换器(6d)接收从所述温度检测电路(6b)发送的所述温度检测信号,并对所述温度检测信号进行模数转换,并且
其中,所述电流值计算电路(6e)基于所述AD转换器(6d)所转换的所述温度检测信号来对所述负载电流值执行温度校正。
3.根据权利要求2所述的过电流保护电路,
其中,所述电流检测部分(6)还包括复用器(6c),所述复用器(6c)在与所述负载电流值相对应的所述检测信号与从所述温度检测电路(6b)发送的所述温度检测信号之间切换被发送到所述AD转换器(6d)的信号。
4.根据权利要求2所述的过电流保护电路,
其中,所述电流检测部分(6)还包括电流校正信息存储部分(6f),所述电流校正信息存储部分(6f)相对于所述半导体开关(2)的温度存储电流校正信息,并且
其中,所述电流值计算电路(6e)根据从所述AD转换器(6d)所转换的所述温度检测信号获得的、所述半导体开关(2)的温度,使用在所述电流校正信息存储部分(6f)中存储的所述电流校正信息,来对所述负载电流值执行所述温度校正。
5.根据权利要求4所述的过电流保护电路,
其中,所述过电流检测部分(6)还包括电压检测电路(6a),所述电压检测电路(6a)检测所述半导体开关(2)的漏-源电压,以作为与所述负载电流值相对应的所述检测信号,
其中,所述电流值计算电路(6e)根据所述半导体开关(2)的所述漏-源电压和导通电阻来计算所述负载电流值,
其中,所述电流校正信息存储部分(6f)存储与所述半导体开关(2)的温度与所述导通电阻之间的关系有关的信息,以作为所述电流校正信息,并且
其中,所述电流值计算电路(6e)通过根据所述半导体开关(2)的温度校正所述导通电阻,来对根据所述漏-源电压和所述导通电阻计算出的所述负载电流值执行所述温度校正。
6.根据权利要求1-5中的任意一项所述的过电流保护电路,
其中,所述加值确定电路(7a)计算与所述负载电流值的平方成比例的值,并将所述加值设置成与所述负载电流值的平方成比例的值。
7.根据权利要求1-5中的任意一项所述的过电流保护电路,
其中,所述加法和减法部分(7)还包括电流确定信息存储部分(7b),所述电流确定信息存储部分(7b)包括所述负载电流值与所述加值之间的信息,并且
其中,所述加值确定电路(7a)使用所述电流确定信息存储部分(7b)中存储的所述信息来确定与所述电流值计算电路(6e)计算出的所述负载电流值相对应的所述加值。
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