[发明专利]超声探头几何参数的校正方法和装置及系统有效

专利信息
申请号: 201210339675.X 申请日: 2012-09-14
公开(公告)号: CN102871685A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 吴方刚 申请(专利权)人: 飞依诺科技(苏州)有限公司
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 陈振
地址: 215123 江苏省苏州市苏州工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 超声 探头 几何 参数 校正 方法 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种超声探头几何参数的校正方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤S100,在超声探头设置在超声成像系统后,在超声系统中设置感兴趣区域为发射焦区,读取探头的待校正几何参数列表R;

步骤S200,依次读取几何参数列表R并将各几何参数应用于发射和接收的波束合成,采集几何参数对应的感兴趣区域内的I、Q数据,并对I、Q数据求幅度,对感兴趣区域内的幅度数据做二维傅里叶变换;

步骤S300,对感兴趣区域截止频率半径范围[D1,D2]内的频谱能量求和几何参数列表R对应的得到能量值列表Q;

步骤S400,在能量值列表Q中查找幅度最大的能量值对应的几何参数,作为所述探头校正后的最优几何参数,并将该最优几何参数作为所述探头的几何参数应用于所述超声成像系统后续的超声成像。

2.根据权利要求1所述的超声探头几何参数的校正方法,其特征在于,所述几何参数为超声探头曲率半径或者超声探头阵元间距,以及几何参数为超声探头曲率半径和阵元间距。

3.根据权利要求2所述的超声探头几何参数的校正方法,其特征在于,所述几何参数为超声探头的曲率半径,其包括如下步骤:

步骤S100’,设置感兴趣区域为发射焦区,读取探头的待校正曲率半径列表ROC[0,…,N-1],其中,N为整数;

步骤S200’,依次读取曲率半径列表ROCi并将各曲率半径应用于发射和接收的波束合成,采集曲率半径对应的感兴趣区域内的I、Q数据,并对I、Q数据求幅度,对感兴趣区域内的幅度数据做二维傅里叶变换;

步骤S300’,将Wi(u,v)的原点变换到频率坐标的(L/2,S/2)处,然后对感兴趣区域内的截止频率半径范围[D1,D2]内的频谱能量求和,得到能量值Q(i),D1和D2为预设值;

步骤S400’,对ROCi求得所有的Q(i)后,i=0,1,2,...,N-1,找出Q(i)中最大值对应的ROCi作为最优的ROCopt,将最优的ROCopt作为所述探头的曲率半径应用于后续的超声成像。

4.根据权利要求3所述的超声探头几何参数的校正方法,其特征在于,所述步骤S100’包括如下步骤:

步骤S110’,通过超声成像系统的超声诊断仪主机将感兴趣区域设置在深度上以发射焦点为中心、在宽度上以图像中心线为中心的预设范围内;

步骤S120’,通过超声诊断仪主机读取预先设置的探头曲率半径参数列表ROCi;其中,i=0,…N-1,N为整数。

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