[发明专利]磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及磁共振技术，特别是涉及一种基于磁共振的温度成像扫描方法和系统。

背景技术

在磁共振成像系统中，来自水分子的氢质子共振频率随着成像物体温度变化而变化，大约为0.0087ppm/℃。测量该温度变化的PRF（基于质子共振频率漂移法）方法大概分为两种，一种为磁共振波谱法，一种为磁共振成像方法，磁共振成像方法主要是指参考法。磁共振波谱法，利用脂肪谱峰位置不受温度变化影响，而水谱峰位置受温度变化影响的现象，通过对比水谱峰与脂肪谱峰位置差，可得到温度变化的信息，该方法可测得绝对温度值。参考法是在成像物体温度发生变化前，先扫描参考图像，在温度变化的时候，采集同样位置的图像，对比这时采集到的图像和参考图像相的相位差，可得到温度变化的数值，从而得到温升测量的目的。参考法虽然只能测得温升，但因为成像速度快，可用于实时成像而在现实中得到广泛应用。但参考法对主磁场变化非常敏感，假如扫描过程中，由于温度的变化等原因，主场磁发生漂移，则会影响测量温升的准确性。自参考法，是为了解决磁场漂移的问题而提出的，对参考法的补充，该方法假设成像物体只有部分区域温度发生变化，而一部分区域的温度没有变化，通过对比没有温度变化区域信号的相位差，可得到主磁场漂移的信息，利用该信息对测量到的温度变化区域的温升数据进行修正，从而提高了温度测量的准确性。

参考法要准确测得温升，有一个基本假设，即所得图像的相位信息是准确的，并不会随图像采集时间不一样而不一致，但在现实的成像系统中，因为成像过程中，不断地施加梯度，梯度会在一些铁磁物质中产生涡流，从而加热这些铁磁物质，比如说匀场片，在永磁系统中，也加热磁块，从而引起主磁场的变化，而在参考法测量温度的序列，比如说梯度回波，分段平面回波序列，激发平面回波序列等，并没有考虑主磁场在扫描图像过程中发生漂移的问题。参考法完全没办法消除主磁场发生漂移带来的测量误差，自参考法虽然考虑了主磁场漂移的问题，但其假设的前提并不一定能够得到满足，更为严重地是，该方法没有受到运动的干扰严重，而运动在临床中很常见，利用自参考法测量的磁场漂移信息本身并不完全准确，在有运动的情况下，利用测得的磁场漂移信息对温升数据进行纠正会引入更多的误差。

由此可见，提高温度成像中温度测量的准确性是技术难点。

发明内容

基于此，有必要提供一种基于磁共振的温度成像扫描方法。

另外，还有必要提供一种基于磁共振的温度成像扫描系统。

一种磁共振温度成像中温度测量的矫正方法，包括以下步骤：测量温升；判断所述测量温升是否结束，否，则获取主磁场漂移信号值，并根据所述主磁场漂移信号值计算得到补偿电流值；根据所述补偿电流值对主磁场进行补偿。

在其中一个实施例中，所述测量温升的步骤为：扫描成像序列；通过所述成像序列获得磁共振图像；根据所述磁共振图像计算得到温升。

在其中一个实施例中，在所述根据所述补偿电流值对主磁场进行补偿的步骤之后包括：返回到所述测量温升的步骤。

在其中一个实施例中，所述获取主磁场漂移信号值，并根据所述主磁场漂移信号值计算得到补偿电流值的步骤为：发射检测主磁场信号序列，获取初始主磁场漂移信号值和比较主磁场漂移信号值；通过所述初始主磁场信号值和所述比较主磁场漂移信号值计算主磁场漂移量；通过所述主磁场漂移量计算补偿电流值。

在其中一个实施例中，所述初始主磁场信号值为温度成像中温度测量开始时的主磁场信号值。

一种磁共振温度成像中温度测量的矫正系统，包括温升测量模块、判断模块、主磁场测量模块、处理模块以及补偿线圈；所述温升测量模块，用于测量温度变化值；所述判断模块，用于判断测量温度是否结束，否，则通知所述主磁场测量模块；所述主磁场测量模块，用于测量主磁场漂移信号值；所述处理模块，用于根据所述主磁场漂移信号值计算得到补偿电流值；所述补偿线圈，用于根据所述补偿电流值对主磁场进行补偿。

在其中一个实施例中，所述温升测量模块包括：射频线圈、成像单元以及计算单元；所述射频线圈，用于扫描成像序列；所述成像单元，用于通过所述成像序列获得磁共振图像；所述温升计算单元，用于根据所述磁共振图像计算得到温度变化值。

在其中一个实施例中，还包括：循环模块，在补偿线圈完成主磁场补偿后循环进入温升测量模块。

在其中一个实施例中，所述主磁场测量模块包括初始测量单元和漂移测量单元；所述初始测量单元，用于获取初始主磁场漂移信号值；所述漂移测量单元，用于获取比较主磁场漂移信号值。