[发明专利]一种基于阴影区域内外检查线匹配的阴影消除方法有效
申请号: | 201210342195.9 | 申请日: | 2012-09-14 |
公开(公告)号: | CN102915524A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 孙开敏;眭海刚;李文卓;张宏雅;刘俊怡;马国锐 | 申请(专利权)人: | 武汉大学 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T7/00 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 严彦 |
地址: | 430072 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 阴影 区域 内外 检查 匹配 消除 方法 | ||
1.一种基于阴影区域内外检查线匹配的阴影消除方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,对影像进行阴影检测,获取影像中的阴影区域以及相应的阴影边界矢量线;
步骤2,设步骤1中所得任一阴影区域相应的阴影边界矢量线为R,利用阴影边界矢量线R生成阴影区域边界内外检查线,所述阴影区域边界内外检查线包括由阴影边界矢量线R外扩后位于非阴影区域的外检查线R1和由阴影边界矢量线R内缩后位于阴影对象内的内检查线R2,
步骤3,根据任一阴影区域的外检查线R1和内检查线R2,对每个波段分别执行以下步骤,步骤3.1,分别沿外检查线R1和内检查线R2采集影像在当前波段上的灰度值,生成灰度曲线V1和灰度曲线V2;
步骤3.2,对步骤3.1所得灰度曲线V1和灰度曲线V2进行匹配,获得灰度曲线V1和灰度曲线V2间的辐射差异;
步骤3.3,判断步骤3.2所得辐射差异是否满足预设的迭代结束条件,若否则以非阴影区的辐射特性为参考,对阴影区域进行辐射校正处理,然后返回步骤3.1,若是则进入步骤3.4;
步骤3.4,以外检查线R1和内检查线R2之间作为过渡区,在过渡区内对当前辐射校正处理后的阴影区域的边界进行羽化过渡处理。
2.根据权利要求1所述基于阴影区域内外检查线匹配的阴影消除方法,其特征在于:步骤2中利用阴影边界矢量线R生成阴影区域边界内外检查线,实现方式如下,
对阴影边界矢量线R上的每个点j取阴影边界矢量线R的垂线,垂线上两侧与点j距离为a的点分别作为外检查线R1和内检查线R2中对应的节点,外检查线R1的所有节点连接构成外检查线R1,内检查线R2的所有节点连接构成内检查线R2,其中a为预设参数。
3.根据权利要求2所述基于阴影区域内外检查线匹配的阴影消除方法,其特征在于:步骤3.1中生成灰度曲线V1和灰度曲线V2时,使得灰度曲线V1和灰度曲线V2采样像素数量相同且位置对应。
4.根据权利要求3所述基于阴影区域内外检查线匹配的阴影消除方法,其特征在于:步骤3.2中对步骤3.1所得灰度曲线V1和灰度曲线V2进行匹配前,对灰度曲线V1和灰度曲线V2做高斯平滑滤波处理。
5.根据权利要求4所述基于阴影区域内外检查线匹配的阴影消除方法,其特征在于:步骤3.2的实现方式是,对高斯平滑滤波处理后的灰度曲线V1和灰度曲线V2以相同尺度平均分段,然后对所得分段曲线计算曲线形状相似性,排除相关系数最小的若干分段曲线;根据剩余分段曲线计算灰度平均差异D,获得灰度曲线V1和灰度曲线V2间的辐射差异。
6.根据权利要求5所述基于阴影区域内外检查线匹配的阴影消除方法,其特征在于:步骤3.3中所述非阴影区的辐射特性,采用排除相关系数最小的若干分段曲线后灰度曲线V1的统计特性。
7.根据权利要求1或2或3或4或5或6所述基于阴影区域内外检查线匹配的阴影消除方法,其特征在于:步骤3.3中所述预设的迭代结束条件为,本次所得辐射差异小于某一预设阈值T2且相邻n次迭代所得辐射差异的变化量小于某一预设阈值T1,n为预设次数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学,未经武汉大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210342195.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:CMOS输入缓冲器
- 下一篇:一种食品安全型红曲色素的生产方法