[发明专利]一种按键检测电路及检测方法

权利要求书

1.一种按键检测电路，包括中央处理器MCU、若干按键和电源，所述中央处理器MCU设置有n个通用输入/输出接口GPIO，其特征在于：

所述按键的个数为n²个，所述n²个按键按SW_n×n的矩阵布置，其中，n为大于1的整数；

所述按键检测线路包括n²条检测线路，具体地，

每个通用输入/输出接口GPIO均为输入接口，GPIOi通过按键SW_1m接地构成检测SW_1m的检测线路，其中m为1到n的自然数；

GPIOi为输出接口，GPIO₁-GPIO_i-1，以及GPIO_i+1-GPIO_n为输入接口，GPIO₁-GPIO_i-1以及GPIO_i+1-GPIO_n分别通过SW_2i、SW_3i、SW_4i…SW_ni与GPIO_i连接构成n-1条检测线路，用于实现对按键SW_2i、SW_3i、SW_4i...SW_ni的检测，其中，i为1到n的自然数。

2.如权利要求1所述的按键检测电路，其中，GPIO_i通过按键SW_1i接地构成检测线路中，GPIO_i和按键SW_1i之间设置有二极管，用于防止检测电路中电流倒灌而损坏通用输入/输出接口GPIO_i。

3.如权利要求1所述的按键检测电路，其中，所述每个GPIO与电源之间设置有上拉电阻。

4.如权利要求1至3之一所述的按键检测电路，其中，所述n为2。

5.如权利要求1至3之一所述的按键检测电路，其中，所述n为3。

6.一种按键检测电路的检测方法，其中，所述按键检测电路包括中央处理器MCU、n²个按键和电源，所述中央处理器MCU设置有n个通用输入/输出接口GPIO，所述n²个按键按SW_n×n的矩阵布置，其中，n为大于1的整数，所述按键检测方法包括以下步骤：

中央处理器MCU控制每个GPIO的输入输出状态；

当需要检测按键SW_1i时，中央处理器MCU控制每个GPIO均为输入接口，GPIO_i与按键SW_1i构成的检测线路上的按键SW_1i被扫描，若GPIO_i为低电平，则表示按键SW_1i被按下，其中，i为1到n的自然数，本步骤中，实现对按键矩阵中第一行的n个按键的扫描；

当需要检测按键SW_2i、SW_3i、SW_4i…SW_ni时，中央处理器控制GPIO_i为输出接口，GPIO₁-GPIO_i-1，以及GPIO_i+1-GPIO_n为输入接口，按键SW_2i、SW_3i、SW_4i...SW_ni被扫描，若GPIO₁-GPIO_i-1，GPIO_i+1-GPIO_n中的GPIO接口为低电平时，则按键SW_2i、SW_3i、SW_4i…SW_ni中与GPIO接口相应的按键表示被按下，其中，i为1到n的自然数，本步骤中，按键矩阵中除第一行的n*(n-1)个按键被扫描。

7.如权利要求6所述的检测方法，其中，n的个数为3。

8.如权利要求7所述的检测方法，其中，所述中央处理器MCU设置的三个GPIO接口对9个按键的检测步骤为：

当三个GPIO均为输入接口时，GPIO₁、GPIO₂、GPIO₃分别与按键SW₁₁、SW₁₂、SW₁₃构成的检测线路上的按键SW₁₁、SW₁₂、SW₁₃被扫描，GPIO₁为低电平，则表示按键SW₁₁被按下；GPIO₂为低电平，则表示按键SW₁₂被按下；GPIO₃为低电平，则表示按键SW₁₃被按下；

当GPIO₁为输出接口，GPIO₂、GPIO₃为输入接口时，按键SW₂₁、SW₃₁被扫描，若GPIO₂为低电平，则表示SW₂₁被按下，若GPIO₃为低电平，则表示SW₃₁被按下；

当GPIO₂为输出接口，GPIO₁、GPIO₃为输入接口时，按键SW₂₂、SW₃₂被扫描，若GPIO₁为低电平，则表示SW₂₂被按下，若GPIO₃为低电平，则表示SW₃₂被按下；

当GPIO₃为输出接口，GPIO₁、GPIO₂为输入接口时，按键SW₂₃、SW₃₃被扫描，若GPIO₁为低电平，则表示SW₂₃被按下，若GPIO₂为低电平，则表示SW₃₃被按下。