[发明专利]基于模块化的多通道二极管测试系统和方法无效
申请号: | 201210346708.3 | 申请日: | 2012-09-19 |
公开(公告)号: | CN102879721A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 郭帅;叶丰;施玮;李健 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 模块化 通道 二极管 测试 系统 方法 | ||
1.一种基于模块化的多通道二极管测试系统,包括:一个上位机系统(I)连接一个下位机系统(II);其特征在于:所述的上位机系统(I)是一个工控机(1),分别经过一个数据采集卡(2)和一个数字I/O卡(3),连接光电隔离接口板一(4)和光电隔离接口板二(5);所述的下位机系统(II)是四个可复用的测试电路模块(6、7、8、9)连接所述光电隔离接口板(4、5),与数据采集卡的多通道模拟输入输出配合实现多测试点的测试。
2.根据权利要求1所述的基于模块化的多通道二极管测试系统,其特征在于所述的测试电路模块包括一块母板和三块功能板卡;上述的母板采用总线式分布,共有四个插槽,功能板卡共享母板的数字总线和模拟信号线;上述的功能板卡包括极性测试板卡、恒流源板卡和高压源板卡;上述的极性测试板卡用于测试二极管的五种状态:正向、反向、短路、开路、接触不良;上述的恒流源板卡用于正向压降VF参数测试,其关键电路在于可编程电流的产生;上述的高压源板卡用于崩溃电压VB和反向漏电流IR参数测试,其关键电路在于可编程电压的产生。
3.一种采用根据权利要求1所述的基于模块化的多通道二极管测试系统进行二极管测试的方法,其特征在于,具体操作步骤如下:
1)系统精度校准:包括恒流源校准、电压源校准、VF测试校准、VB测试校准以及IR测试校准;
2)测试通道和参数配置:可配置为单通道单参数测试、单通道多参数测试、多通道单参数测试和多通道多参数测试;
3)测试模式和信息设置:设置手动测试模式或连续测试模式,设置VF、VB以及IR测试的激励信号和判定范围;
4)测试结果自动修正:包括多通道精度一致性修正和防脉冲干扰复合滤波。
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