[发明专利]一种用于荧光检测的光学检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种配合装置，尤其涉及一种用于荧光检测的光学检测装置。

背景技术

目前用于检测荧光的光学检测装置有多种，一种是CCD成像原理进行面状检测，一种是PMT直接对样品跟踪检测。

其中对于PMT的检测方式中，为了达到对多个样品进行跟踪检测，一般会让整个装置做X向及Y向的扫描运动，从而达到在同一面方向上对多个样品进行跟踪检测；还有一种方法是检测装置不做面方向上的运动，用一根光纤连接到整个装置上，让光纤做X向及Y向的扫描运动,这样做的优点在于检测装置上的PMT不做运动，从而减小了PMT在运动过程中的抖动，使检测过程更加平稳。

该检测形式结构分布如图1所示，其中a部分包含1个发射光源1和1个接收检测信号的光电倍增管（PMT）2，其结构固定不动,；b部分包含若干对用于过滤出需要波段的光的第一滤光片、第二滤光片，b部分结构可以绕Z轴转动来实现滤光片的切换；c部分包含用于传递发射光源和接收荧光的光纤（由5、6和7部分组成）的发射端5和接收端6，其结构和a部分一样固定不动；

上述方法存在的问题:为保证光纤的检测端7的面方向上（X向和Y向）的运动轨迹，则在面方向（X向及Y向）上不能有阻碍其运动结构存在。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术的不足，提供一种用于荧光检测的光学检测装置，当光纤做扫描运动时在X向或Y向的某一个方向上存在结构上的障碍，无法做面方向上的运动。此时让光纤只在X向或Y向的另一个方向做扫描运动，而不能做扫描的方向则根据检测的需要用多根光纤的检测来替代。即多根光纤同时做一个方向（X向或Y向）上的扫描运动对样品进行跟踪检测，而光纤上激光的发射和检测信号的接收通过光源和PMT的转动切换来实现。

   本发明通过下述技术方案解决上述技术问题：

本发明包括发射光源、光电倍增管(PMT)、第一滤光片、第二滤光片、光纤；

发射光源和光电倍增管（PMT）安装在结构A上，结构A可以实现绕Z轴的转动；

第一滤光片、第二滤光片为一组安装在结构B上，结构B可以实现绕Z轴的转动，但与结构A的转动不同步；同时，结构B上安装有多组滤光片，实现不同通道的切换；且每组滤光片过滤出不同波段的光，方便多种染料的试剂使用；

用于传递光源和接收荧光的光纤由两根小光纤并拢而成，其中两根小光纤的一端并作一根作为检测端，两根小光纤的另一端分别为发射端和检测端。其中，发射端将发射光源传递到检测端，接收端将来自检测端的光传递给光电倍增管。光纤的发射端和接收端分别安装在结构C上，结构C固定不能绕Z轴转动；

所述的用于传递光源和接收荧光的光纤多根，多根光纤的检测端并成一排同时对与光纤并排垂直的方向进行扫描。

本发明有益效果如下：

本发明结构A固定在Z轴上，可实现绕Z轴的转动；且结构B上安装有多组滤光片，实现不同通道的切换；用于传递光源和接收荧光的光纤也有多根。

附图说明

图1为传统光学检测装置示意图；

图2为本发明装置示意图；

图3为本发明检测端排布示意图；

图4为本发明结构A俯视图；

图5为本发明结构B俯视图；

图6为本发明结构C俯视图；

图7为本发明检测端排布俯视图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步说明。

如图1、图2、图4所示，一种用于荧光检测的光学检测装置，包括发射光源1、光电倍增管（PMT）2、第一滤光片3、第二滤光片4、光纤发射端5、光纤接收端6、光纤检测端7；

发射光源1和光电倍增管（PMT）2安装在结构A上，结构A可以实现绕Z轴的转动；

如图5所示，第一滤光片3、第二滤光片4为一组安装在结构B上，结构B可实现绕Z轴的转动，但与结构A的转动不同步；同时，结构B上安装有多组滤光片，实现不同通道的切换；且每组滤光片过滤出不同波段的光，方便多种染料的试剂使用；

用于传递光源和接收荧光的光纤由两根小光纤并拢而成，其中小两根光纤的一端并作一根作为光纤检测端7，两根小光纤的另一端分别为光纤发射端5和光纤检测端6。其中，光纤发射端5将发射光源传递到光纤检测端7，光纤接收端6将来自光纤检测端7的光传递给光电倍增管2。光纤发射端5和光纤接收端6分别安装在结构C上，结构C固定不能绕Z轴转动；

如图3、图6、图7所示，所述的用于传递光源和接收荧光的光纤有多根，多根光纤的光纤检测端7并成一排同时对与光纤并排垂直的方向进行扫描。