[发明专利]氮化硅的膜制备方法、具有氮化硅膜的太阳能电池片及其制备方法有效
申请号: | 201210350692.3 | 申请日: | 2012-09-19 |
公开(公告)号: | CN102856174A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 赵学玲;范志东;李倩;李永超;王涛;解占壹 | 申请(专利权)人: | 英利能源(中国)有限公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L21/318;H01L31/0216 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明;张永明 |
地址: | 071051 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化 制备 方法 具有 太阳能电池 及其 | ||
1.一种氮化硅膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、将硅片置入管式炉内;
S2、向所述管式炉内通入氮气,并将所述管式炉在氮气气氛下升温至340℃~360℃,恒温500s~2000s;以及
S3、利用PECVD法在所述硅片上依次形成第一氮化硅膜层和第二氮化硅膜层。
2.根据权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S3包括:
S31、向所述管式炉内通入氨气,对所述硅片表面进行预处理;
S32、向所述管式炉内通入包括硅烷和氨气的第一混合气体,在经预处理的所述硅片表面上形成所述第一氮化硅膜层;
S33、向所述管式炉内通入包括硅烷和氨气的第二混合气体,在所述硅片形成有所述第一氮化硅膜层的一侧表面上形成所述第二氮化硅膜层。
3.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S31中进一步包括:
以流量为2800~3200sccm向所述管式炉内通入氨气,并在压强为1300~1500mTorr,射频功率为4800~5400W,时间为200~300s条件下进行所述预处理。
4.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S32中进一步包括:
按照体积流量比为1:3~1:5向所述管式炉内通入所述硅烷和所述氨气,其中所述硅烷的流量为800~1200sccm;在压强为1400~1600mTorr,射频功率为5800~6100W,沉积时间为120~200s条件下,在经预处理的所述硅片上形成所述第一氮化硅膜层。
5.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S33中进一步包括:
按照体积流量比为1:9~1:12向所述管式炉内通入所述硅烷和所述氨气,其中所述硅烷的流量为500~900sccm;在压强为1300~1500mTorr,射频功率为5800~6300W,沉积时间为600~800s条件下,在所述硅片形成有所述第一氮化硅膜层的一侧表面上形成所述第二氮化硅膜层。
6.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S31、S32和S33均是在温度为340℃~360℃条件下进行。
7.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S2中恒温600s~900s。
8.根据权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤S3中完成所述第二氮化硅膜层沉积后,在温度为340℃~360℃条件下直接取出具有所述氮化硅膜的所述硅片。
9.一种太阳能电池片的制备方法,包括制备氮化硅膜的步骤,其特征在于,所述氮化硅膜为采用权利要求1至8中任一项所述的方法制备而成。
10.一种太阳能电池片,其特征在于,所述电池片为采用权利要求9所述的制备方法制备而成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造