[发明专利]大型回转体零件表面轮廓误差测量及实时补偿方法

权利要求书

1.一种回转体零件表面轮廓误差测量及实时补偿方法，用于对利用托辊支撑的回转体零件的表面轮廓的误差进行测量并在加工中实时补偿，其中，所述支撑回转体的托辊沿回转体中心轴线对称设置在回转体下方两侧，其外表面轮廓分别与回转体轮廓相切接触，其特征在于，该方法包括如下步骤：

（1）分别确定过每个托辊与回转体轮廓表面切点的公切线，并进而得到两切线相交所形成的夹角；

（2）利用托辊带动回转体零件旋转一周，对回转体零件轮廓表面均匀采样，得到周向上均匀分布的多个采样点，测得各采样点处的综合误差，同时获得各采样点对应的两托辊轮廓误差，其中该综合误差由所述托辊轮廓误差和回转体轮廓误差组成；

（3）根据所得的综合误差和托辊轮廓误差，计算得到各个采样点处的回转体零件的表面轮廓误差；

（4）加工时，利用位移传感器对托辊轮廓误差进行实时测量，由所述托辊轮廓误差的实时测量值及回转体零件表面轮廓误差值计算得到各个采样点的误差补偿值，即可进行加工中的实时误差补偿。

2.根据权利要求1所述的一种回转体零件表面轮廓误差测量及实时补偿方法，其特征在于，所述步骤（3）中，根据下述公式计算得到回转体零件表面轮廓误差：

V(i)=R(i)+p·[R(i+m₁+1)+R₂(i)]+q·[R(i+m₁+m₂+2)+R₃(i)]

其中，i为采样点序号，V(i)为第i个采样点处的综合误差，R(i)为回转体零件上第i个采样点的轮廓误差值，R₂(i)表示其中一个托辊上对应第i个采样点的托辊表面切点处的轮廓误差，R₃(i)表示另一个托辊上对第i个采样点的托辊表面切点处的轮廓误差，且p=cos(α2+β)/sinα,]]>q=cos(α2-β)/sinα,]]>m1=N[(π2+α2)-β]2π-1,]]>m2=N(π-α)2π-1,]]>α为两切线相交所形成的夹角，β为测量点与回转体工件的瞬时回转中心的连线与两切线夹角的平分线所形成的夹角，N为一周的采样点数。