[发明专利]一种红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法有效
申请号: | 201210361618.1 | 申请日: | 2012-09-25 |
公开(公告)号: | CN103674237A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 李霞;马勇辉;朱小芳;刘兴润;佟惠原;朱希娟;董晓刚 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第二研究院二〇七所 |
主分类号: | G01J1/00 | 分类号: | G01J1/00;G01J1/60 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 高尚梅 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外 恒星 天空 背景 交叉 辐射 校方 | ||
技术领域
本发明涉及一种红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法,特别是涉及一种目标光学特性研究领域的红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法。
背景技术
地面观测设备开展空间目标辐射特性测量时,要准确完成对所研究对象的定量测量与分析,需对设备进行辐射响应度定标,建立探测器输入量(电压、电流、灰度等)与输出量(辐射亮度、辐射通量等)的严格对应关系。数据的测量精度在很大程度上取决于标定精度,因此,定标过程己成为辐射特性测量系统研制、使用中的重要环节之一。
尽管测量设备在出厂时对其响应度进行了精确的室内检测标定,但在实际使用过程中,环境变化、器件随时间稳定性变化等因素,导致测量设备的响应曲线产生变化,需要开展试验前、后,或阶段性标校测量,用以校准因使用时间、环境变化等因素导致的输出响应偏差。
经调查研究搜集相关资料:目前国内地基设备辐射定标技术多采用黑体加准直光学系统的方法,该方法能够实现对设备的精确定标,缺点是对试验现场的环境要求高。
因此亟需提供一种新型的红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种不需增加额外标定设备,且标校方法简便易于实现的红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法。
为解决上述技术问题,本发明一种红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法,依次包括以下步骤:
步骤1、在晴空无云的天气条件下,在红外标准星表中选取一颗红外标准星进行测量,使恒星分别成像于探测器的四角和中心,进行n次测量,得到每次测量的成像像元的灰度值DN1i;
得到设备灰度值DN1;
获得恒星大气层外的辐射照度E01;计算得到观测路径上的大气程辐射E′1和透过率t1;
得到设备入瞳处辐射照度E1;
E1=E01·t1+E1′;
步骤2、在晴空无云的天气条件下,在红外标准星表中选取第二颗红外标准星进行测量,使恒星分别成像于探测器的四角和中心,进行n次测量,得到每次测量的成像像元的灰度值DN2i;
得到设备灰度值DN2;
获得恒星大气层外的辐射照度E02;计算得到观测路径上的大气程辐射E′2和透过率t2;
得到设备入瞳处辐射照度E2;
E2=E02·t2+E2′;
步骤3、得到辐射响应系数A;
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