[发明专利]用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验方法及装置

权利要求书

1.一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验方法，其特征在于包含以下步骤：

a）观察用于工业温度计自动校准的设备是否安装有唯一编码的射频电子标签，用于工业温度计自动校准的设备包括标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表，如果标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表没有分别安装具有唯一编码的射频电子标签，则对标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表安装新的射频电子标签；

b）在进行校准前，无线射频信息读取单元扫描安装于标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上的射频电子标签，获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上射频电子标签的编码信息；

c）无线射频信息读取单元将扫描到的各设备电子标签编码经校准信息处理单元中的MCU通过串口通讯单元传输至装有设备指标信息数据库的上位机中，将所获取的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码值信息与设备指标信息数据库中的数据进行核对，如果没有在设备指标信息数据库中核对到该标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码值信息所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，则在设备指标信息数据库中录入新的设备指标信息，并保存在设备指标信息数据库中；

d）装在上位机上的工业温度计自动校准软件从设备指标信息数据库中获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表电子标签编码所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，将所获得的设备指标信息通过串口通讯单元经校准信息处理单元中的MCU传输至校准信息处理单元中的非易失性存储器，非易失性存储器内保存有工业温度计校准项目核验判据；通过MCU将所获得的设备指标信息与保存在非易失性存储器中的工业温度计校准项目核验判据进行核对，当全部设备指标信息符合核验判据要求时，MCU通过串口通讯单元发送允许开展校准活动的信号至上位机中的工业温度计校准软件，否则MCU通过串口通讯单元发送不允许开展校准活动的信号和不合要求的设备编码信息至上位机中的工业温度计校准软件；

e）如果上位机上的工业温度计自动校准软件获得MCU发来的允许开展校准活动信号，则工业温度计自动校准软件开始进行工业温度计自动校准，并在校准结束后进行校准结果的计算与校准证书的打印；如果工业温度计自动校准软件获得MCU发来的不允许开展校准活动信号，则工业温度计自动校准软件向操作人员报警，并显示不合要求的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备编码信息。

2.根据权利要求1所述方法的一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验装置，其特征在于：由上位机和下位机组成；上位机包括设备指标信息数据库、工业温度计自动校准软件和打印机；下位机包括无线射频信息读取单元，由MCU和非易失性存储器组成的校准信息处理单元以及串口通讯单元，无线射频信息读取单元、校准信息处理单元和通讯单元依次连接；串口通讯单元经RS-232通讯接口，且通过DB9线缆与上位机连接。

3.根据权利要求2所述方法的一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验装置，其特征在于：所述射频电子标签使用PMMA材质，外加金属扣环分别固定于标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上。