[发明专利]用于确定X 射线阳极的磨损的方法和装置

权利要求书

1.一种用于确定以阳极盘（11）构成的X射线阳极（3）的磨损的方法，所述方法包括：

-对于表征了通过取决于在借助所述X射线阳极（3）所产生的辐射（70，71，72，73）和阳极盘（11）之间的角度所影响的特征的参数，确定参考值（I_ref（Heel）），

-在所述阳极（3）的特定的运行持续时间之后，对于参数确定一个值（I（Heel）），

-将所确定的参数值（I（Heel））与所述参考值（I_ref（Heel））进行比较，和

-将所述参数值（I（Heel））与参考值（I_ref（Heel））的偏差与所述阳极（3）的磨损状态相关联。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述特征涉及所产生的辐射的强度或能量谱。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述参数是对于在射线束的角度区域部分内的辐射强度的相对改变的度量或者是对于有关能量谱的改变的度量。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述参数是对于能量谱的部分区域的相对辐射强度的度量。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，将滤波器（14）引导到辐射束的区域内，以便测量能量谱的部分区域的辐射强度。

6.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，使用挡板（12），利用所述挡板（12）限制阳极侧区域上的辐射。

7.一种用于确定以阳极盘（11）构成的X射线阳极（3）的磨损的装置，所述装置包括：

-检测器（6），用于接收至少一个测量值，和

-分析装置（10），所述分析装置被构造为：

--用于从至少一个测量值中确定参数值（I（Heel）），其中所述参数（I（Heel））表征了通过取决于在借助所述X射线阳极（3）所产生的辐射和阳极盘（11）之间的角度所影响的特征，

--将所确定的参数值（I（Heel））与参考值（I_ref（Heel））进行比较，和

--将所述参数值（I（Heel））与所述参考值（I_ref（Heel））的偏差与所述阳极（3）的磨损状态相关联。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述特征涉及所产生的辐射的强度或能量谱。

9.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述参数是对于在射线束的角度区域部分内的辐射强度的相对改变的度量或者是对于有关能量谱的改变的度量。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述参数是对于能量谱的部分区域的相对辐射强度的度量。

11.根据权利要求10所述的装置，所述装置具有滤波器（14），所述滤波器（14）可被引导到辐射束的区域内，以便测量能量谱的部分区域的辐射强度。

12.根据权利要求7至11中任一项所述的装置，所述装置具有挡板（12），利用所述挡板（12）可限制阳极侧区域上的辐射。

13.根据权利要求7至12中任一项所述的装置，所述装置具有用于将参数值与参考值的偏差与阳极（3）的磨损状态相关联的表格。