[发明专利]一种基于目标特征构型的位姿测量特征点提取方法

权利要求书

1.一种基于目标特征构型的位姿测量特征点提取方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1，在目标航天器上设置构成菱形的四个低功耗发光二极管；

步骤2，在航天器交会对接的逼近阶段，采用追踪航天器相机，采集复杂星空背景下的光学特征点图像，并经过自适应阈值二值化、平滑滤波后得到一幅二值图像；

步骤3，通过搜索步骤2得到的图像中的平面菱形构型，求出航天器光学特征点的像平面坐标；

具体的搜索方法如下：

步骤3.1，将步骤2得到的图像上大小不一的光斑进行划分，每一个光斑属于一个单连通域，对图像区域中的光斑编号，并求出所有光斑质心坐标和光斑像素面积；

步骤3.2，从所求的光斑质心坐标中选取不同的四个点，所选四个点的光斑像素面积大小近似；判断是否构成菱形，如果构成菱形，则存储此四个点的坐标；

步骤3.3，由于安装在目标航天器上的光学特征点所包围的区域内不会有任何光斑，因此以步骤3.2得到的构成菱形的四个点中距离最长的两个点为直径，做一个圆，若有除该菱形四点之外的其它光斑点落在这个圆内，则排除该组菱形构型；反之，则判定该组光斑坐标是目标航天器上的光学特征点的像平面坐标；

步骤3.4，重复步骤3.2-步骤3.3，直到得到一组目标航天器上的光学特征点的像平面坐标。

2.根据权利要求1所述的一种基于目标特征构型的位姿测量特征点提取方法，其特征在于：采用圆形光学特征点。