[发明专利]一种数字集成电路的测试方法

权利要求书

1.一种数字集成电路的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、从被测电路中获取所有测试路径以组成第一测试路径集合；

B、从所述第一测试路径集合中选择满足第一条件的所有测试路径并复制到第二测试路径集合中；

C、从所述第二测试路径集合中选择扇出个数最多的第一测试路径，并计算影响锥和与所述第一测试路径相关联的测试向量，并从所述第一和第二测试路径集合中删除所述第一测试路径；

D、如果所述第一测试路径为多个，则从所述第一测试路径中选择与所述影响锥重合度最小的路径作为标记路径，否则将所述第一测试路径作为标记路径；

E、判断所述标记路径是否满足压缩条件；

F、如果所述标记路径满足所述压缩条件，则生成所述第一测试路径的测试对，并根据所述测试对对对应的测试向量进行更新；

G、如果所述标记路径不满足所述压缩条件，则重复执行步骤C至步骤F直至所述第二测试路径集合为空时，得到更新后的最终测试向量；以及

H、根据所述最终测试向量对所述被测电路进行故障模拟以检测故障路径，并在第一测试路径集合和所述第二测试路径集合中删除相应的可被故障模拟检测到的路径。

2.根据权利要求1所述的数字集成电路的测试方法，其特征在于，所述被测电路包括第一类型电路和第二类型电路。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述影响锥包括第一类型影响锥和第二类型影响锥，其中，所述第一类型影响锥与所述第一类型电路对应，所述第二类型影响锥与所述第二类型电路对应。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，

所述第一类型影响锥为：{A}UIN（G1），其中，G1是路径延迟故障在第二帧的输出门，A为第一帧路径延迟故障的输入端；

所述第二类型影响锥为：IN（G）UIN（G1），其中，G是路径延迟故障在第二帧的输出门，G1是路径延迟故障在第二帧的输出门。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤H进一步包括：

根据所述第一测试路径集合建立STP电路；

将所述测试向量输入所述STP电路中以进行三值逻辑模拟；

以所述STP电路的PO和PPOS的每个输入端为起点进行检测；

检测第二帧电路中的PO和PPOS的其他输入端相对于检测输入端是否满足第二条件；

如果所述被测电路为第二类型电路，则继续判断检测路径是否存在跳变；

如果所述被测电路为第一类型则在判断满足第二条件时或者所述被测电路为第二类型是则在判断满足所述第二条件且存在跳变时，则依次对前驱门检测是否允许逻辑值从输出端传播到输入端，如果不允许，则判断其他传播途径是否能够传播，否则对下一个前驱门进行检测；

如果判断传播至PI或PPIS端，则判断出当前路径为可被故障模拟检测到的路径。

6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述建立STP电路的步骤包括：

从可被故障模拟检测到的路径中选择一条路径加入到STP电路中，并从可被故障模拟检测到的路径中删除所选择的一条路径；

判断STP子电路中是否存在未检测路径，其中，所述STP子电路为在STP电路中含有共同输入端的路径；

如果判断所述STP子电路存在未检测路径，则检测可被故障模拟检测到的路径中所有的扇出点是否均位于所述STP子电路中，如果所有的扇出点均没有位于所述STP子电路中，则增加相应的路径至所述STP子电路中，如果至少一个扇出点位于所述STP子电路中，则检测可被故障模拟检测到的路径和所述STP电路中相关路径是否有相同的扇出分支，如果不同，则检测下一条STP子电路路径；

如果相同，则检测可被故障模拟检测到的路径中的所有门是否和所述STP子电路中的门相同，如果相同则把可被故障模拟检测到的路径中的门的输入点作为所述STP子电路中对应门的输入分支；

如果可被故障模拟检测到的路径加入到所述STP子电路中，则记录第一测试路径中各门的输入点编号和扇出分支号；

如果可被故障模拟检测到的路径没有加入到所述STP子电路中，则建立新的STP子电路。