[发明专利]后肩采样电路及采样后肩下降沿电压的方法无效

专利信息
申请号: 201210366164.7 申请日: 2012-09-27
公开(公告)号: CN102841235A 公开(公告)日: 2012-12-26
发明(设计)人: 王新成;施乐宁 申请(专利权)人: 福州瑞芯微电子有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00;G01R19/175;G01R19/17
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 350003 福建省福州市*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 采样 电路 下降 电压 方法
【权利要求书】:

1.一种后肩采样电路,包括:

一计数电路,用于计数高频变压器辅助绕组上振铃波过零点的次数或谷底个数;

一检测电路,用于检测从开关元件关断到振铃波的第n次过零点的时间Tvcn或第n个谷底发生的时间Tvan;以及

一计算电路,用于根据所述Tvcn或Tvan计算出从开关元件关断到所述振铃波后肩下降沿发生的时间Tdis

其中,n为非负整数。

2.如权利要求1所述的后肩采样电路,其特征在于,所述计算电路为一函数运算电路。

3.如权利要求1所述的后肩采样电路,其特征在于,所述开关元件为MOS晶体管或双极性晶体管。

4.如权利要求1所述的后肩采样电路,其特征在于,所述从开关元件关断到所述振铃波后肩下降沿发生的时间Tdis根据如下公式得出:

Tdis=Tvcn-(2n+12)π(Lp+Lrp+Np2Ns2Lrs)Cr]]>

其中,Lp为一高频变压器的初级电感量,Lrp为所述高频变压器的初级漏感量,Lrs为所述高频变压器的次级漏感量,Cr为所述开关元件的源漏极间电容与所述开关元件的漏极到地寄生电容之和,Np为所述高频变压器的初级匝数,Ns为所述高频变压器的次级匝数。

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