[发明专利]自对准硅基光纤夹具及制造方法有效
申请号: | 201210367056.1 | 申请日: | 2012-09-28 |
公开(公告)号: | CN103698855A | 公开(公告)日: | 2014-04-02 |
发明(设计)人: | 王雷;刘鹏 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G02B6/38 | 分类号: | G02B6/38;G03F7/00 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 孙大为 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 对准 光纤 夹具 制造 方法 | ||
1.一种准硅基光纤夹具,其特征在于,
夹具单元本体材料为硅;
单个夹具单元厚度为200至800微米;
夹具由导向孔和限位孔组成,导向孔和限位孔相连且贯穿硅本体,导向孔宽度大于限位孔。
2.如权利要求1所述的自对准硅基光纤夹具,其特征在于,单个夹具单元厚度为350至550微米;其导向孔深度为20至150微米;其导向孔倾斜度为20至60度;其导向孔底部尺寸为限位孔+0.4至8微米;其限位孔深度为250至500微米,尺寸为光纤特征尺寸+0.1至10微米;相邻两限位孔中心之间的间距其尺寸与设计尺寸偏离为0.1至10微米。
3.如权利要求2所述的自对准硅基光纤夹具,其特征在于,其导向孔倾斜为35至55度;导向孔底部尺寸为+0.4至1.6微米;限位孔尺寸为光纤特征尺寸为+0.5至2微米;相邻两限位孔中心之间的间距其尺寸与设计尺寸偏离为+/-0.5至2微米。
4.如权利要求1所述的自对准硅基光纤夹具,其特征在于,由单个夹具单元组合形成夹具组合体。
5.一种自对准硅基光纤夹具的制造方法,其特征在于,其工艺步骤为:
步骤1、在硅基板上旋涂光刻胶,进行导向孔图形光刻;
步骤2、以光刻胶为掩模,刻蚀硅基板形成导向孔,其深度为20至150微米,控制其底部尺寸为最终的限位孔尺寸+硬掩模侧墙厚度;
步骤3、去胶后在已经刻蚀出导向孔的硅衬底上全面沉积硬掩模层,厚度为0.5至10微米;
步骤4、旋涂负性光刻胶进行填充;
步骤5、以光刻胶为掩模,进行硬掩模层回刻,在导向孔侧壁形成硬掩模层侧墙,同时去除底部硬掩模层,光刻胶光刻后的开口要大于限位孔的开口同时小于导向孔的开口;
步骤6、然后再用硬掩模层为掩模刻蚀硅基板,自对准形成限位孔,其深度为250至500微米,硅基板剩余未刻蚀层厚度为50至250微米;
步骤7、硅片背面研磨减薄露出限位孔。
6.根据权利要求5所述的自对准硅基光纤夹具的制造方法,其特征在于,导向孔的产生也可以采用硬掩模作为掩模层,将步骤1、2采用以下步骤:
步骤1、在硅基板上沉积硬掩模层,厚度为0.5-50微米;
步骤2、旋涂光刻胶,进行导向孔图形光刻;
步骤3、以光刻胶为掩模,刻蚀硬掩模层,再利用硬掩模层作为掩模层刻蚀硅基板形成导向孔,其深度为20至150微米。
7.如权利要求6所述的自对准硅基光纤夹具的制造方法,其特征在于,步骤3中其硬掩模层材料为SiO2;所述导向孔刻蚀也可以采用硬掩模为中间阻挡层;步骤4的负胶旋涂使用光刻胶量为2毫升至20毫升;步骤4的负胶旋涂使用光刻胶量为4至8毫升。
8.如权利要求7所述的自对准硅基光纤夹具的制造方法,其特征在于,步骤4的负胶旋涂可以采用多次旋涂。
9.如权利要求6所述的自对准硅基光纤夹具的制造方法,其特征在于,步骤4的负胶旋涂的多次旋涂工艺其各步骤特征为:
1)吐出量为1~10毫升,转速500-1200rpm,旋转2-15秒后静止0.5-5秒再重复上述步骤,通过1~5次循环完成;
2)重复步骤1)1~3次;
3)吐出量为0.2~5毫升,转速800rpm-1500rpm,旋转2-15秒;
4)重复步骤3)1~3次。
10.如权利要求9所述的自对准硅基光纤夹具的制造方法,其特征在于,步骤5回刻后,导向孔内光刻胶与衬底间台阶差小于5微米;步骤3沉积硬掩模层厚度为0.5至2微米。
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