[发明专利]用于减小路径损耗的方法和设备

权利要求书

1.一种用于使用测试站来测试被测产品设备的方法，所述被测产品设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳，所述方法包括：

将所述被测产品设备耦合到所述测试外壳内的测试固定装置；

在所述被测产品设备耦合到所述测试固定装置时，收集关于所述第一天线结构的测试测量，以确定所述第一天线结构是否满足与所述第一天线结构相关联的预定性能准则；以及

在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在所述被测产品设备仍然耦合到所述测试固定装置时，收集关于第二天线结构的测试测量，以确定所述第二天线结构是否满足与所述第二天线结构相关联的预定性能准则。

2.如权利要求1所述的方法，还包括：

在收集关于所述第一天线结构的测试测量之前，将所述被测产品设备定位在第一朝向；以及

在收集关于所述第一天线结构的测试测量之后并且在收集关于所述第二天线结构的测试测量之前，将所述被测产品设备定位在与所述第一朝向不同的第二朝向。

3.如权利要求2所述的方法，其中，将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：围绕旋转轴来旋转所述被测产品设备。

4.如权利要求2所述的方法，其中，将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：围绕与所述测试外壳的平面底座表面垂直的旋转轴来旋转所述被测产品设备。

5.如权利要求2所述的方法，其中，将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：沿着与所述测试外壳的平面底座表面垂直的轴垂直地移动所述被测产品设备。

6.如权利要求2所述的方法，其中，将所述被测产品设备从所述第一朝向定位到所述第二朝向包括：沿着与所述测试外壳的平面底座表面平行的轴水平移动所述被测产品设备。

7.如权利要求2所述的方法，其中，所述测试外壳包括测试天线，并且其中，将所述被测产品设备定位在所述第一朝向包括：定位所述被测产品设备，使得所述测试天线与所述第一天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化。

8.如权利要求7所述的方法，其中，将所述被测产品设备定位在所述第二朝向包括：定位所述被测产品设备，使得所述测试天线与所述第二天线结构之间的射频信号路径损耗被最小化。

9.如权利要求1所述的方法，还包括：

响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构中的至少一个未能满足预定性能准则，将所述被测产品设备标记为需要重做的失败的设备。

10.如权利要求1所述的方法，还包括：

响应于确定所述第一天线结构和所述第二天线结构满足预定性能准则，将所述被测设备标记为通过的设备，并且将所述通过的设备封装成全新的产品。

11.一种用于使用测试站来测试被测设备的方法，所述被测设备至少包括第一天线结构和第二天线结构，其中，所述测试站包括测试外壳和所述测试外壳内的测试天线，所述方法包括：

在所述被测设备与所述外壳内的测试固定装置配合时，将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第一天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第一朝向；

在所述被测设备处于所述第一朝向时，对所述第一天线结构执行射频测量；

在所述被测设备与所述测试固定装置配合时，将所述被测设备定位在使在所述测试天线与所述第二天线结构之间传播的射频信号的射频信号路径损耗最小化的第二朝向；以及

在所述被测设备处于所述第二朝向时，对所述第二天线结构执行射频测量。

12.如权利要求11所述的方法，其中，所述测试外壳包括横电磁室。

13.如权利要求11所述的方法，还包括：

在所述被测设备处于所述第一朝向时并且在所述第二天线结构被切出使用时，利用所述测试天线向所述第一天线结构发送射频测试信号，并从所述第一天线结构结接收射频测试信号。

14.如权利要求13所述的方法，还包括：

在所述被测设备处于所述第二朝向时并且在所述第一天线结构被切出使用时，利用所述测试天线向所述第二天线结构发送射频测试信号并从所述第二天线结构接收射频测试信号。