[发明专利]磁记录介质用玻璃基板有效
| 申请号： | 201210369825.1 | 申请日： | 2012-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN102930874A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 吉宗大介;大塚晴彦 | 申请（专利权）人： | 旭硝子株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/84 | 分类号： | G11B5/84;G11B5/73 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 王海川;穆德骏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 记录 介质 玻璃 | ||
1.一种磁记录介质用玻璃基板，具有一对主平面、外周端面和内周端面，其特征在于，
所述外周端面具有外周侧表面部和外周倒角部，
在所述外周端面上，在以所述磁记录介质用玻璃基板的圆心角计间隔15度而设置的总计24个外周端面测定位置处测定表面粗糙度Ra时，
所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的最大值为0.5μm以下，且
所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的标准差为0.2μm以下。
2.如权利要求1所述的磁记录介质用玻璃基板，其特征在于，两个相邻的外周端面测定位置处的所述外周侧表面部的表面粗糙度Ra的差为0.3μm以下。
3.如权利要求1或2所述的磁记录介质用玻璃基板，其特征在于，
所述外周倒角部的表面粗糙度Ra的最大值为0.5μm以下，
所述外周倒角部的表面粗糙度Ra的标准差为0.2μm以下，且
两个相邻的外周端面测定位置处的所述外周倒角部的表面粗糙度Ra的差为0.3μm以下。
4.如权利要求1~3中任一项所述的磁记录介质用玻璃基板，其特征在于，
所述内周端面具有内周侧表面部和内周倒角部，
在所述内周端面上，在以所述磁记录介质用玻璃基板的圆心角计间隔15度而设置的总计24个内周端面测定位置处测定表面粗糙度Ra时，
所述内周侧表面部的表面粗糙度Ra的最大值和所述内周倒角部的表面粗糙度Ra的最大值为0.5μm以下，
所述内周侧表面部的表面粗糙度Ra的标准差和所述内周倒角部的表面粗糙度Ra的标准差为0.2μm以下，
两个相邻的内周端面测定位置处的所述内周侧表面部的表面粗糙度Ra的差和所述内周倒角部的表面粗糙度Ra的差为0.3μm以下。
5.如权利要求1~4中任一项所述的磁记录介质用玻璃基板，其特征在于，在所述磁记录介质用玻璃基板的表面上形成具有磁性层的多层膜时，所述多层膜的膜剥落发生概率为0.7%以下。
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