[发明专利]掺氟氧化锡薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201210374374.0 申请日: 2012-09-27
公开(公告)号: CN102839348A 公开(公告)日: 2012-12-26
发明(设计)人: 蓝德均;崔旭梅;黄双华;邹敏;陈孝娥 申请(专利权)人: 攀枝花学院
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;C23C14/35
代理公司: 成都虹桥专利事务所 51124 代理人: 梁鑫;高芸
地址: 617000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 氧化 薄膜 制备 方法
【权利要求书】:

1.掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于包括如下步骤:

a、将二氧化锡粉末和氟化物混合均匀,然后干燥;

b、用步骤a干燥后的混合物制得粉末靶,然后安装于溅射仪的射频靶上;将基底材料进行清洗、干燥后安装于溅射仪真空室的样品位置上;

c、开始溅射过程,制得掺氟氧化锡薄膜。

2.根据权利要求1所述的掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于:步骤a中干燥的温度为50~300℃。

3.根据权利要求2所述的掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于:步骤a中干燥的温度为100~200℃。

4.根据权利要求1所述的掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于:溅射过程中,真空室气氛为0.5~10Pa的氩气,氩气供气压力为0.1~5MPa。

5.根据权利要求4所述的掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于:预溅射时间为0.5~4h,正式溅射时间为20~50min,溅射功率为100~200W,靶距为15~40mm。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于:所述粉末靶中氟的含量为0.1~2%。

7.根据权利要求1至5中任一项所述的掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于:步骤a中所述氟化物为氟化铵、氟氢化铵或氟化氢溶液中的至少一种。

8.根据权利要求1至5中任一项所述的掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于:步骤b中所述基底材料为玻璃、石英、硅晶片或高分子柔性基底。

9.根据权利要求1至5中任一项所述的掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于:步骤c制得掺氟氧化锡薄膜后将薄膜静置在空气中至少30分钟。

10.根据权利要求1至5中任一项所述的掺氟氧化锡薄膜的制备方法,其特征在于:溅射过程中电源采用射频电源。

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