[发明专利]一种光强测试设备有效

专利信息
申请号: 201210376009.3 申请日: 2012-09-29
公开(公告)号: CN102853905A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 张弥 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;赵爱军
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及液晶面板技术,尤其涉及一种光强测试设备。

背景技术

随着薄膜场效应晶体管液晶显示(TFT-LCD)技术的发展和工业技术的进步,液晶显示器件生产成本降低、制造工艺的日益完善,使其成为当前显示领域的主流技术。LCD是所有显示器中耗电较低的产品,特别是反射型TFT-LCD,由于取消了背光源,其功耗比透射式TFT-LCD低了一个数量级。

传统透射型液晶显示器在光强测试时,是由背面照射,正面测试的方法进行光强测试,而反射型薄膜场效应晶体管液晶显示器或没有背光源的其它被测设备,由于没有背光源无法按照上述的方法进行光强测试。

由此可见现有技术中存在无法对没有背光源的被测设备进行光强测试的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种光强测试设备,解决现有技术中存在的无法对没有背光源的被测设备进行光强测试的问题。

本发明提供一种光强测试设备,光强测试设备包括光源和光强测试器,其中光源发射的光线经过第一光路,经被测设备反射后经过第二光路,光强测试器的光接收面位于第一光路之外,且能够接收第二光路上的光。

优选地,所述被测设备为反射型液晶面板。

优选地,还包括光反射板,其中光源发射的光线经光反射板反射后,射向反射型液晶面板,再经反射型液晶面板反射后经过第二光路。

优选地,光源发射的光线经光反射板反射后,垂直射向反射型液晶面板。

优选地,光源发射的光线与反射型液晶面板平行。

优选地,所述光反射板上设置有光通过孔,经过所述第二光路的光通过所述光通过孔被光强测试器的光接收面接收。

优选地,所述光通过孔设置在所述光反射板的中心区域。

优选地,所述光通过孔的外形为圆形或多边形或椭圆形。

优选地,所述光反射板的反射面上设置有反射棱镜。

优选地,所述反射棱镜为多个,分别设置于所述光通过孔的四周。

优选地,光强测试设备进一步包括转动装置,转动装置用于在反射型液晶面板所在的平面内,转动和移动所述反射型液晶面板。由于本发明实施例所述光强测试设备是通过光源和光强测试器采用反射的方式进行测试,光源发射的光线经过第一光路,经没有背光源的被测设备反射后经过第二光路射入光强测试器,从而实现对被测设备的光强测试。

附图说明

图1所示为本发明提供的反射型液晶面板测试设备剖面图;

图2所示为本发明提供的带反射板的反射型液晶面板测试设备剖面图;

图3所示为本发明提供的反射型液晶面板测试设备反射板俯视图;

图4所示为本发明提供的带转动装置的反射型液晶面板测试设备反射板俯视图。

具体实施方式

本发明提供一种光强测试设备,为了解决现有技术中存在的无法对没有背光源的被测设备进行光强测试的问题。

为了便于本领域技术人员的理解,下面结合反射型液晶面板的具体实施例和附图对本发明进行说明。

参见图1所示,该图为本发明提供的测试设备剖面图。

本发明实施例以反射型液晶面板作为被测设备进行说明,当然被测设备也可以是其它需要进行光强测试的设备,在此不再详述。

本发明实施例所述光强测试设备具体可以包括:光源11和光强测试器12。

其中光源11发射的光线经过第一光路,经反射型液晶面板13反射后经过第二光路,光强测试器12的光接收面位于第一光路之外,且位于第二光路之上。

这样通过光源11和光强测试器12经过反射的方式可以对反射型液晶面板13进行光强测试。

反射型液晶面板可以包括半透半反液晶面板和全反射液晶面板。

由于本发明实施例所述光强测试设备是通过光源11和光强测试器12采用反射的方式进行测试,光源11发射的光线经过第一光路,经被测设备反射后经过第二光路射入光强测试器12,从而实现对被测设备的光强测试。

如图2所示,本发明实施例所述光强测试设备还可以包括光反射板14。其中光源11发射的光线经光反射板14反射后,射向反射型液晶面板13,再经反射型液晶面板反射(漫反射)后经过第二光路,射入光强测试器12的光接收面。

为了便于光强测试器12对光强的计算,需要保证测试时光源11的入射光能够垂直射向反射型液晶面板13。光源11发射的光线经光反射板14反射后,垂直射向反射型液晶面板13,再经反射型液晶面板反射(漫反射)后经过第二光路,射入光强测试器12的光接收面。

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