[发明专利]采用容栅传感器制作的绝对测量直线测微计有效

专利信息
申请号: 201210376834.3 申请日: 2012-09-29
公开(公告)号: CN102853755A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 赵志强;赵飙;钟胜 申请(专利权)人: 钟胜;赵志强;赵飙
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02
代理公司: 桂林市持衡专利商标事务所有限公司 45107 代理人: 廖世传
地址: 510630 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 采用 传感器 制作 绝对 测量 直线 测微计
【权利要求书】:

1.采用容栅传感器制作的绝对测量直线测微计,包括测量杆(1)、框架体(2)以及容栅传感器的主栅(9)和副栅(8),所述测量杆(1)的后段杆体通过框架体(2)的前、后支撑和框架体(2)与测量杆(1)之间的侧位导向机构安装,测量杆(1)的前段伸出框架体(2),测量杆(1)后段杆体上安装主栅座(3),其特征在于:所述容栅传感器包括具有绝对测量功能的标定传感器和测量传感器,所述标定传感器和测量传感器分设于框架体(2)正面和背面或于框架体(2)正面前、后设置,标定传感器的主栅(9)和测量传感器的主栅(9)通过主栅座(3)置于测量杆(1)上,标定传感器的副栅(8)和测量传感器的副栅(8)设于框体(2)上,所述主栅(9)与副栅(8)之间形成合理的感应间隙。

2.根据权利要求1所述的采用容栅传感器制作的绝对测量直线测微计,其特征在于:所述侧位导向机构为单导向机构或双导向机构。

3.根据权利要求2所述的采用容栅传感器制作的绝对测量直线测微计,其特征在于:所述单导向机构包括与测量杆(1)平行且联动的导向杆(4),所述导向杆(4)滑动支撑在框架体(2)内部的上、下支撑之间,所述上、下支撑为下方的调节螺钉(5)和上方的压片(6)。

4.根据权利要求2所述的采用容栅传感器制作的绝对测量直线测微计,其特征在于:所述双导向机构包括设于测量杆(1)两侧且与其平行联动的导向杆(4),所述各导向杆(4)滑动支撑在框架体(2)内部对应的上、下支撑之间,所述上、下支撑为下方的调节螺钉(5)和上方的压片(6)。

5.根据权利要求1~4中任意一项所述的采用容栅传感器制作的绝对测量直线测微计,其特征在于:伸出框架体(2)的测量杆(1)前段杆体上设有防护机构,所述防护机构为后段固定套(7)和前段伸缩套(10)。

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