[发明专利]发光二极管晶片的检测装置无效

专利信息
申请号: 201210381322.6 申请日: 2012-10-10
公开(公告)号: CN103728120A 公开(公告)日: 2014-04-16
发明(设计)人: 吴岱纬;蔡泰成;许国君;许寿文;李允立 申请(专利权)人: 新世纪光电股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 董云海;彭晓玲
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 晶片 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种发光二极管晶片的检测装置,其特征在于,该检测装置至少包含:

一具聚光功能的透明载台,该透明载台包含一入光面以及一出光面,该入光面用以承载待测的复数个发光二极管晶片;

一点测装置,该点测装置包含二探针及一电源供应器,这些探针的二端分别电性连接这些发光二极管晶片之一者及该电源供应器,以令该发光二极管晶片发出复数道光线,这些光线是入射该透明载台的该入光面;以及

一光感测装置,该光感测装置设于该透明载台的该出光面的一侧,用以接收通过该透明载台的这些光线。

2.如权利要求1所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该透明载台的该出光面的面积小于该入光面的面积。

3.如权利要求1所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该透明载台的该出光面具有复数个微结构。

4.如权利要求3所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该微结构为棱镜柱,该棱镜柱具有一第一斜面及一第二斜面,该第一斜面及该第二斜面形成一顶角。

5.如权利要求3所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该微结构具有一弧形表面。

6.如权利要求1所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该透明载台的该出光面的断面为一朝外的弧凸状型态者。

7.如权利要求1所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该透明载台的内部具有一容置空间,该容置空间设有一会聚透镜,以令该透明载台具有聚光功能。

8.如权利要求1所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该透明载台的内部具有一容置空间,该容置空间设有至少一导光元件,用以导引入射该透明载台的这些光线。

9.如权利要求8所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该导光元件为光纤。

10.如权利要求8所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该导光元件为导光柱或导光板。

11.如权利要求1所述的发光二极管晶片的检测装置,其中该光感测装置为积分球、太阳能板、光电晶体或光电阻。

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