[发明专利]校正光学感测信号的方法有效

专利信息
申请号: 201210384543.9 申请日: 2012-10-11
公开(公告)号: CN102929442A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 郑造时;郑修哲;卓恩宗;张钧杰 申请(专利权)人: 友达光电股份有限公司
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 梁挥;祁建国
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 校正 光学 信号 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种校正光学感测信号的方法,特别是涉及一种可减少因光源不均匀或感测单元特性差异而产生的误差的校正光学感测信号的方法。

背景技术

随着相关科技的进步,光学感测技术逐渐被应用于各种电子装置上,举例来说,光学感测技术可应用于电子装置的触控输入功能,让使用者能以触控的方式输入指令,或者,光学感测技术可应用于电子装置的影像扫瞄功能,让使用者能利用电子装置扫瞄对象的影像。然而,光学感测技术需要光源(例如背光光源)以对对象进行感测,当投射于光学感测阵列的光线不均匀时,光学感测阵列产生的光学感测信号会有误差,另外,光学感测阵列的感测单元之间的响应特性会因元件的信噪比(signal to noise ratio,SNR)差异而不一致。因此,习知光学感测技术容易因光源不均匀或感测单元特性差异而使得光学感测信号失真。

发明内容

本发明提供一种校正光学感测信号的方法,该方法包含于一光源关闭时产生一第一组参考数据;于该光源开启至一第一亮度且未感测对象时产生一第二组参考数据;根据该第一组参考数据及该第二组参考数据产生一第一组校正参数;于该光源开启至该第一亮度时感测一对象以产生一第一组感测数据;根据该第一组感测数据及该第二组参考数据得到一第二组感测数据;及根据该第二组感测数据及该第一组校正参数得到一第一组校正感测数据。

本发明另提供一种光学感测装置,该光学感测装置包含一光源,用以产生光线;一光学感测阵列,用以根据该光源产生的光线感测对象;及一校正单元,用以校正该光学感测阵列的光学感测信号;其中该光学感测阵列于一光源关闭时产生一第一组参考数据;该光学感测阵列于该光源开启至一第一亮度且未感测对象时产生一第二组参考数据;该校正单元根据该第一组参考数据及该第二组参考数据产生一第一组校正参数;该光学感测阵列于该光源开启至该第一亮度时感测一对象以产生一第一组感测数据;该校正单元根据该第一组感测数据及该第二组参考数据得到一第二组感测数据;及该校正单元根据该第二组感测数据及该第一组校正参数得到一第一组校正感测数据。

相较于现有技术,本发明提供一种校正光学感测信号的方法及其光学感测装置。本发明校正光学感测信号的方法可有效地消除因光线不均匀而产生的误差以及因感测单元信噪比不一致而产生的误差,因此。本发明校正光学感测信号的方法可使光学感测装置的光学感测信号不失真。

附图说明

图1为本发明光学感测装置的示意图;

图2为本发明光学感测装置产生第一组参考数据的示意图;

图3为本发明光学感测装置产生第二组参考数据的示意图;

图4为本发明光学感测装置产生第一组校正参数的示意图;

图5为本发明光学感测装置产生第一组感测数据的示意图;

图6为本发明光学感测装置得到第二组感测数据的示意图;

图7为本发明光学感测装置得到第一组校正感测数据的示意图;

图8为本发明群组化装置的控制方法的流程图。

附图标记

100:光学感测装置                110:光源

120:光学感测阵列                122:感测单元

130:控制器                      132:校正单元

134:内存                        200:电子装置

800:流程图                      810至860:步骤

R11-Rmn:第一组参考数据          R11’-Rmn’:第二组参考数据

C11-Cmn:第一组校正参数          S11-Smn:第一组感测数据

S11’-Smn’:第二组感测数据      D11-Dmn:第一组校正感测数据

具体实施方式

请参考图1,图1为本发明光学感测装置100的示意图。如图1所示,本发明光学感测装置100包含光源110,光学感测阵列120,及控制器130。光源110用以产生光线,并将光线投射至光学感测阵列120上。光源110可为背光光源或其它类型的光源。光学感测阵列120包含多个感测单元122,用以根据光源110产生的光线感测对象。控制器130包含校正单元132,用以校正光学感测阵列120的光学感测信号。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友达光电股份有限公司,未经友达光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210384543.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top