[发明专利]触控点侦测方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种触控点侦测方法，且特别是有关于一种非数值运算类型的触控点侦测方法。

背景技术

触控面板的设计原理是在面板上设计多个感测单元，且当感测单元被以特定的方式触碰时会产生物理变化。举例来说，当使用光照方式来进行感测时，一旦有物品靠近触控面，则感测单元所接收到的光通量就可能有所改变；若使用按压方式来进行感测，则当物品按压到触控面时，感测单元就可能产生形变，或者会因为感测单元与触控面之间的相对距离改变而造成电容量产生变化。在发现感测单元有物理量变化的时候，这些物理量变化通常会被转换为电子信号而传递到处理器进行对应的计算；甚至进一步利用算法，将触碰的面积信息提供给后端模块进行与使用者互动方式的设计。

然而，无论是物理量变化本身、对于物理量变化的侦测以及在电子信号传递的过程中，都有可能产生各类的噪声而影响到触碰面积的判断，甚至可能造成误报触碰点的状况。有鉴于此，采用差动(differential)来消除噪声的方式就因应而生。在利用差动来消除噪声的过程中，会把相邻的感测单元的输出信号两两相减，借此将共模(common)噪声去除，因此可以排除共模噪声所造成的影响。然而，在某些特定的情况，差动技术并无法有效地消除噪声的影响。例如，在使用内嵌式(in-cell)感测单元的触控面板时，随着感测单元的排列方式、画面的显示内容以及像素驱动时的极性设计等因素的变化，对于内嵌式感测单元的输出信号都会产生不同的影响。

如图1A与图1B所示，图1A为差动信号的示意图，图1B则是由图1A的差动信号还原而得的感测信号的示意图。其中，整体差动信号X与整体感测信号S分别包含n个差动信号与n个感测信号，X₀、X_a、X_b与X_n分别表示第0个、第a个、第b个与第n个差动信号，而S₀、S_a、S_b与S_n分别表示第0个、第a个、第b个与第n个感测信号。整体差动信号X与整体感测信号S之间的关系满足以下公式：

S_y=S_y-1+X_y

因此，在整体差动信号X本身没有噪声干扰的时候，可以还原正确的整体感测信号S。然而，一旦在整体差动信号X中出现了噪声，则还原的整体感测信号S就会出现问题。请参考图1C与图1D，图1C显示在差动信号X_a之前出现了一个突波噪声。基于以上公式，这个整体差动信号中的突波噪声会使得整体感测信号S如图1D所示在感测信号S_a之前就被向上抬升。假若被抬升的值大于判断是否为触碰点时所使用的临界值，则触碰点的判断结果就会失败。

发明内容

本发明提出一种触控点侦测方法，包括：提供包含了第一数量的预设电位特征的电位特征预设组合，侦测得多个感测单元的多个感测电位特征，判断按照依一个特定方向排列的多个感测单元的感测电位特征的排列结果，最后根据感测电位特征排列结果与前述电位特征预设组合之间的关系的判断结果以设定触控点侦测的结果。其中，在判断按照某一个特定方向排列的感测单元的感测电位特征的排列结果时，先在特定方向上依序取得与感测单元之一及所取感测单元之后的连续多个感测单元相对应、总数共为第二数量的感测电位特征，之后判断这些感测电位特征与前述电位特征预设组合中位于相对应位置的预设电位特征是否相符。接下来，在此特定方向上，从此次所取的感测单元中的第一个往后计数第三数量后开始，重复进行前述的感测电位特征取得及判断是否相符的操作，直到取得此特定方向上排列的所有需进行判断的感测单元的感测电位特征为止。最后根据前述判断感测单元的感测电位特征排列结果以设定触控点侦测的结果。其中，前述的第一数量大于第二数量。

上述的触控点侦测方法，其中该些感测电位特征包括对应的该感测单元的感测电位与一特定电位之间的大小关系。

上述的触控点侦测方法，其中该特定电位为一接地电位。

上述的触控点侦测方法，其中该特定电位为一噪声电位。