[发明专利]片上变压器的衬底涡流的射频模型方法有效
申请号: | 201210385566.1 | 申请日: | 2012-10-12 |
公开(公告)号: | CN103730335A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 黄景丰 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01F41/00;H01F41/04 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 变压器 衬底 涡流 射频 模型 方法 | ||
1.一种片上变压器的衬底涡流的射频模型方法,片上变压器由第一差分电感和第二差分电感嵌套而成,所述第一差分电感和所述第二差分电感都形成于半导体衬底上、且所述第一差分电感和所述第二差分电感都和所述半导体衬底隔离有介质层;所述第一差分电感包括第一端口、第二端口和第一中心抽头,所述第一端口和所述第一中心抽头之间的金属螺旋线圈一和所述第二端口和所述第一中心抽头之间的金属螺旋线圈二为对称结构;所述第二差分电感包括第三端口、第四端口和第二中心抽头,所述第三端口和所述第二中心抽头之间的金属螺旋线圈三和所述第四端口和第二中心抽头之间的金属螺旋线圈四为对称结构;所述片上变压器的金属螺旋线圈会在所述半导体衬底上产生衬底涡流;其特征在于,通过如下射频模型方法来计算所述衬底涡流效应的影响:
所述金属螺旋线圈一、所述金属螺旋线圈二、所述金属螺旋线圈三和所述金属螺旋线圈四中任意一个金属螺旋线圈段和所述半导体衬底之间在射频条件下工作时都设置有对应的衬底涡流等效电路,任意一个所述金属螺旋线圈段所对应的衬底涡流等效电路包括:
由第一衬底电阻和第一衬底电感组成的第一级结构,所述第一级结构的第一端和所述金属螺旋线圈段的第一个端口之间连接有第一介质层电容、所述第一级结构的第二端和所述金属螺旋线圈段的第二个端口之间连接有第二介质层电容;所述第一级结构的第一端和地之间连接由第一衬底寄生电容和第一衬底寄生电阻的并联结构,所述第一级结构的第二端和地之间连接由第二衬底寄生电容和第二衬底寄生电阻的并联结构;
由第N衬底电阻和第N衬底电感组成的第N级结构,N大于等于2,所述第N级结构和所述第一级结构并联;
从第一级结构到第N级结构中,第N衬底电阻大于第N-1衬底电阻,第N衬底电感小于第N-1衬底电感。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述第一衬底电阻由公式:确定,所述第N衬底电阻由公式:确定,上述公式中,S为所述金属螺旋线圈段的面积,Gsub为所述半导体衬底的电导率,N为级数,NA为总级数,M为0.5-2之间。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于:第一衬底电感小于所述金属螺旋线圈段的电感值的十分之一。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述第一介质层电容和所述第二介质层电容都为所述半导体衬底上方的所述金属螺旋线圈段与所述半导体衬底之间的电容。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述第一衬底寄生电阻和所述第二衬底寄生电阻都由公式:确定,Gsub为所述半导体衬底的电导率,S为所述金属螺旋线圈段的面积,k为0.5-2之间;
所述第一衬底寄生电容和所述第二衬底寄生电容由下式公式:kc×d×Csub×(1E-9)确定,d为所述金属螺旋线圈段的外径,Csub为0.505,kc为调整系数,kc的范围为0.8-1.2之间。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于:任意一个所述金属螺旋线圈段所对应的衬底涡流等效电路中,从第一级结构到第N级结构,第一衬底电感和所述金属螺旋线圈段的电感之间形成有第一互感,第N衬底电感和所述金属螺旋线圈段的电感之间形成有第N互感,第一互感和第N互感的值都分别为-1~0。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于:任意一个所述金属螺旋线圈段所对应的衬底涡流等效电路中,从第一级结构到第N级结构,第N互感的绝对值小于第N--1互感的绝对值。
8.如权利要求1-7中任一权利要求所述的方法,其特征在于:N为2。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210385566.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造