[发明专利]触摸屏的侦测装置与方法有效

专利信息
申请号: 201210387553.8 申请日: 2012-10-12
公开(公告)号: CN103049153A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 张钦富;唐启豪 申请(专利权)人: 禾瑞亚科技股份有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 触摸屏 侦测 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明有关于一种电容式触控侦测装置,特别是一种避免因水误判的电容式触控侦测装置。

背景技术

现有习知的互电容式感测器(mutual capacitive sensor),包括绝缘表层、第一导电层、介电层、第二导电层、其中第一导电层与第二导电层分别具有多条第一导电条与第二导电条,这些导电条可以是由多个导电片与串联导电片的连接线构成。

在进行互电容式侦测时,第一导电层与第二导电层的其中之一被驱动,并且第一导电层与第二导电层的另一个被侦测。例如,驱动信号逐一被提供给每一条第一导电条,并且相应于每一条被提供驱动信号的第一导电条,侦测所有的第二导电条的信号来代表被提供驱动信号的第一导电条与所有第二导电条间交会处的电容性耦合信号。借此,可取得代表所有第一导电条与第二导电条间交会处的电容性耦合信号,成为电容值影像。

据此,可以取得在未被触碰时的电容值影像作为基准,藉由比对基准与后续侦测到的电容值影像间的差异,来判断出是否被外部导电物件接近或覆盖,并且更进一步地判断出被接近或覆盖的位置。

然而,如果有导电物质在绝缘表层上跨过两条以上的导电条,在没有被外部导电物件接近或覆盖时,也可能因为导电物质与导电条间的电容性耦合造成电容值影像的变化,而造成误判。例如,水渍在绝缘表层上跨过两条以上的导电条时,会造成电容值影像产生变化,误以为有手指触压。

由此可见,上述现有技术显然存在有不便与缺陷,而极待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题,相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道,但长久以来一直未见适用的设计被发展完成,而一般产品及方法又没有适切的结构及方法能够解决上述问题,此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的技术,实属当前重要研发课题之一,亦成为当前业界极需改进的目标。

发明内容

本发明的目的是提供一种全屏驱动侦测,同时提供驱动信号给触摸屏中沿第一方向平行排列的导电条,以侦测沿第二方向平行排列的导电条上的互电容性耦合信号,从而判断是否有耦合于地的外部导电物件的接近或碰触。无论触摸屏上是否有不耦合于外部的地的沾附水渍或其他导电物体,都可以判断出是否有耦合于外部的地的外部导电物件接近或触碰。因此,在持续一段时间,没有判断出任何耦合于地的外部导电物件的接近或碰触时,可进行互电容性耦合信号的基准的更新。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种触摸屏的侦测方法,包括:提供触摸屏,触摸屏包括多条第一导电条、多条第二导电条与多条屏蔽导电条,其中所述的第一导电条、第二导电条与屏蔽导电条相互露出;执行全屏驱动侦测,包括:同时提供驱动信号给全部第一导电条与全部的屏蔽导电条;同时提供驱动信号给全部第一导电条与全部的屏蔽导电条时,对所有第二导电条的互电容性耦合信号进行侦测,以取得依据所有第二导电条的信号产生的一维度感测信息;以及依据一维度感测信息判断是否存在至少一个耦合于地的外部导电物件接近或触碰触摸屏;以及依据一维度感测信息,持续一段预设时间内判断出不存在至少一个耦合于地的外部导电物件接近或触碰触摸屏时,执行二维度互电容式侦测,以取得二维度感测信息,并依据二维度感测信息更新基准,其中二维度互电容式侦测包括:轮流提供驱动信号给所述第一导电条中的不同的一条或多条导电条,并且提供所有屏蔽导电条直流电位;分别在每一次所述第一导电条中的不同的一条或多条导电条被提供驱动信号时,侦测所有第二导电条的信号,以取得依据所有第二导电条的互电容性耦合信号产生相应于被提供驱动信号的第一导电条的一维度感测信息;以及集合每一个相应于被提供驱动信号的第一导电条的一维度感测信息,以产生二维度感测信息。

本发明的目的及解决其技术问题还可以采用以下技术措施来实现的。

较佳的,前述的触摸屏的侦测方法,其中依据一维度感测信息,判断出存在至少一个耦合于地的外部导电物件接近或触碰触摸屏时,执行二维度互电容式侦测以取得二维度感测信息,再依据二维度感测信息判断出每一个耦合于地的外部导电物件的位置。

较佳的,前述的触摸屏的侦测方法,其中每一个耦合于地的外部导电物件的位置是依据二维度感测信息与基准间的互电容性耦合信号的变化量来判断出。

较佳的,前述的触摸屏的侦测方法,其中依据二维度感测信息更新基准,是以二维度感测信息作为基准或是以二维度感测信息与基准的平均作为基准。

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