[发明专利]在石英晶振测试系统中同时测量不同类型被测件的方法

说明书

技术领域

本发明属于测量技术领域，涉及石英晶振测试系统实现普通与高稳晶振同时测量方法，可用于石英晶体振荡器的计量检定、校准、测量、测试、检验和生产。

背景技术

石英晶体振荡器按国家检定规程所对应的检定对象分为两大类：普通晶振及高稳晶振。普通晶振对应的检定规程为《JJG180-2002电子测量仪器内石英晶体振荡器检定规程》，测量的主要参数有：开机特性、日频率波动、1秒频率稳定度、频率复现性、频率准确度。测量时间最少为3天；高稳晶振对应的检定规程为《JJG181-2005石英晶体频率标准检定规程》，测量的主要参数有：短期频率稳定度（1ms、10ms、100ms、1s、10s）、日老化率、频率准确度。测量时间最少为8天。

目前国内的石英晶体振荡器测试系统主要有两类。一类是通过控制器及切换开关将测试数据打印出来，再输入到计算机的相应程序中进行数据处理，得到测量结果。此类系统不能做到数据的自动处理、被测件的自动加电及断电。典型的设备是中国电子科技集团公司第二十研究所自行研制的“多路自动控制器”；另一类是通过计算机或其他高速处理器控制控制器及切换开关获得测试数据，将测试数据存储在存储器中并进行数据处理得到测量结果。典型的设备是石家庄无线电四厂或西安宏泰时频生产的“石英晶体振荡器自动测试系统”。此类系统只能做到同时测量同一类型晶振或为不同类型被测晶振同时选择相同的测量参数。如果需要同时测量不同类型晶振或为不同类型被测晶振同时选择不同的测量参数，只好等到前一批测量完成，分批进行测量。既费时又有可能闲置可用的测量通道，测量效率极低。

发明内容

本发明的目的在于针对上述已有技术的不足，提出一种在石英晶振测试系统中同时测量不同类型被测件的方法，以提高测量效率。

实现本发明目的的技术方案，包括如下步骤：

(1)石英晶振测试系统开始测量前，根据系统提示内容输入将要测量的不同类型被测件的相关信息，提示内容包括：送测单位、被测件名称、被测件型号、被测件编号、被测件生产商、被测件的频率标称值、被测件的测量依据、被测件预热时间；

(2)将不同类型被测件输出频率的原始数据测量的时间间隔设置为1小时，石英晶振测试系统开始测量后，按每隔1小时的时间间隔测量不同类型被测件的相对平均频率偏差；

(3)对于普通晶振被测件，依据《JJG180-2002电子测量仪器内石英晶体振荡器检定规程》，测量普通晶振被测件的性能：

(3a)普通晶振被测件在加电1小时后，将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s，每隔1小时测量1组，每组连续测得3个相对平均频率偏差，取3个相对平均频率偏差的平均值作为每组的测量结果，共测25组，得到25个测量数据；将测量数据代入到所述JJG180-2002检定规程的相应公式中，计算出普通晶振被测件的开机特性及日频率波动，并根据日频率波动测量结果给出普通晶振被测件的频率准确度，该频率准确度比日频率波动低一个数量级；

(3b)25个测量数据测量完成后，将普通晶振被测件断电，同时取25个测量数据中的第25个测量数据作为第一次测量结果，再对普通晶振被测件持续断电24小时；断电24小时后，给普通晶振被测件再次加电，加电1小时后，将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s，连续测得3个相对平均频率偏差，取3个相对平均频率偏差的平均值作为第二次测量结果；将两次测量结果数据代入到所述JJG180-2002检定规程的相应公式中，计算出普通晶振被测件的频率复现性；

(3c)在普通晶振被测件再次加电到2小时时，先测量其它测量通道上的被测件的相对平均频率偏差，然后将测量普通晶振被测件的相对平均频率偏差的取样时间选为1s，并连续测得101个相对平均频率偏差，再将101个相对平均频率偏差代入到所述JJG180-2002检定规程的相应公式中，计算出普通晶振被测件的1s频率稳定度；

(4)对于高稳晶振被测件，依据《JJG181-2005石英晶体频率标准检定规程》，测量高稳晶振被测件的性能：

(4a)高稳晶振被测件在加电1小时后，将测量相对平均频率偏差的取样时间选为10s，每隔1小时测量1组，每组连续测得3个相对平均频率偏差，取3个相对平均频率偏差的平均值作为每组的测量结果，共测T+168组，得到T+168个测量数据C_i，其相对应的测量时刻为i小时，i取1到T+168，T为高稳晶振被测件日老化率测量的预热时间数值，单位为小时；