[发明专利]一种纳米颗粒测量装置及其测量方法

权利要求书

1.一种纳米颗粒测量装置，包括水平设置的样品池(5)，所述样品池(5)的上方设有CCD显微镜(6)，所述CCD显微镜(6)和计算机(7)相连，其特征在于，所述样品池(5)下方设有半导体激光器(1)，所述半导体激光器(1)的光轴和样品池(5)呈10°～80°的倾斜角度设置。

2.如权利要求1所述的纳米颗粒测量装置，其特征在于，所述样品池(5)下方紧靠着半导体控温装置，所述半导体控温装置包括中空的半导体制冷器(4)，所述半导体制冷器(4)上面的冷端陶瓷面紧靠在样品池(5)的紫铜块底面，所述半导体制冷器(4)下面的热端陶瓷面设有集热环(3)和散热器(2)。

3.如权利要求2所述的纳米颗粒测量装置，其特征在于，所述半导体激光器(1)的功率为3～5mw，波长范围为400nm～650nm。

4.如权利要求1所述的纳米颗粒测量装置，其特征在于，所述散热器(2)、集热环(3)、半导体制冷器(4)和样品池(5)设置在CCD显微镜(6)的载物台上。

5.如权利要求1～4任一项所述的纳米颗粒测量装置，其特征在于，所述CCD显微镜(6)的正下方沿垂直方向设有显微镜照明光源(8)。

6.一种如权利要求1所述的纳米颗粒测量装置的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：

a)在样品池(5)内放置含待测纳米颗粒的液体；

b)控制半导体激光器(1)的俯仰角度，使得样品池(5)内纳米颗粒产生动态光散射光点进入CCD显微镜(6)的视场范围；

c)CCD显微镜(6)读取样品池(5)内纳米颗粒的动态光散射光点并送往计算机(7)；

d)计算机(7)跟踪纳米颗粒的动态光散射光点的运动轨迹，按照爱因斯坦的布朗运动方程，计算出纳米颗粒的粒径。

7.如权利要求6所述的纳米颗粒测量装置的测量方法，其特征在于，所述步骤b)中半导体激光器(1)的波长为400nm～650nm，俯仰角度为10°～80°。

8.如权利要求6所述的纳米颗粒测量装置的测量方法，其特征在于，所述样品池(5)下面紧靠着半导体控温装置，所述半导体控温装置包括中空的半导体制冷器(4)，所述半导体制冷器(4)的冷端陶瓷面紧靠在样品池(5)的紫铜块底面，所述半导体制冷器(4)的热端陶瓷面设有集热环(3)和散热器(2)；所述步骤b)中通过控制半导体制冷器(4)的功率使得样品池(5)中的液体温度保持在15度-25度。

9.如权利要求8所述的纳米颗粒测量装置的测量方法，其特征在于，所述步骤b)中半导体激光器(1)的功率为3～5mw。