[发明专利]具改良式压钳的测试座及使用该测试座的动态测试设备有效
申请号: | 201210389637.5 | 申请日: | 2012-10-15 |
公开(公告)号: | CN103727971B | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
发明(设计)人: | 刘光祥;林威成 | 申请(专利权)人: | 京元电子股份有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 改良 式压钳 测试 使用 动态 设备 | ||
技术领域
本发明涉及一种具改良式压钳的测试座及使用该测试座的动态测试 设备,特别是一种适用于测试动态传感器的测试座及动态测试设备。
背景技术
近几年来,随着微机电系统的日新月异,各种小型化、高性能且成本 低廉的传感器纷纷问世,使得传感器由关键元件进一步提升成为产生创新 价值的主要元件,例如:苹果公司的iPhone、新世代iPod、任天堂的Wii 所使用的三轴加速度传感器,大部分采用微机电系统技术运用在传感器上, 加速度传感器的运作原理为感应出加速度方向的XYZ三轴成分,从而得 出物体在三度空间中的运动向量。
另外,由于为了使各感应元件或待测传感器更微小化,以及为了后续 组装方便,在待测传感器表面常会配置有许多连接脚位或是电路图案,在 进行测试时,因需固定压制感应元件或待测传感器,若压于各连接脚位或 电路图案上,十分容易造成元件毁损。
有鉴于此,有必要设计一种避免破坏待测传感器表面电路图案、且可 大规模测试动态传感器的运动讯号的设备,以提高测试的良率、产能及降 低测试成本。
发明内容
本发明一种具改良式压钳的测试座包括:一基座、一测试埠、一导引 座、一长压钳、一短压钳、以及二按压件。基座开设有一容置槽,测试埠 设置于基座的容置槽内;导引座开设有一测试槽,置于基座的容置槽内, 并位于测试埠上方,导引座与测试埠间夹设有多个第一弹性元件;长压钳 设置于基座的一侧,一端具有一压头,且压头开设有至少一凹槽及具有一 图样的截面部;短压钳则设置于基座上的长压钳的相对侧;二按压件枢设 于基座上相对的二侧,并分别覆盖于长压钳及短压钳的一端,在二按压件 与基座间可夹设有多个第二弹性元件。
当按压按压件时,可使置于按压件底下的长压钳及短压钳向上打开, 即可置入待测传感器,接着停止按压按压件,此时按压件会因多个第二弹 性元件的弹力,回弹至初始位置,使得长压钳可抵压于待测传感器上,并 施予待测传感器一微压应力,让待测传感器可与测试埠相接触,以进行测 试。
而在长压钳的压头上所开设的凹槽及具有图样的截面部,是为了能在 提供测试所需压力的同时,亦可避免破坏待测传感器表面电路图案,以提 高测试的良率、产能及降低测试成本。优选的是,上述压头的截面部所具 有的图样可为多边形、十字形、蝴蝶结形、圆形、椭圆形等或是其组合, 且截面部可为对称或非对称的几何形状。压头的凹槽则可为圆形、椭圆形、 多边形等或是其组合,且亦可为对称或非对称的几何形状。压头上的截面 部与凹槽形式可任意组合搭配,主要是配合待测传感器表面电路图案做调 整。
当压头抵压至待测传感器上时,上述至少一凹槽可对应至待测传感器 的电路图案,而压头的截面部可对应接触待测传感器的非电路图案,以避 开待测传感器表面电路图案,又能钳扣待测传感器于座体内,以避免于翻 转过程或直线往复动作过程中,造成待测传感器掉落,同时亦能施予待测 传感器足够的压力,以进行测试。
上述压头的截面部的尺寸可与待测传感器的尺寸相同,以使压头能确 切按压待测传感器;另外,亦可于压头的截面部设置一弹性层,用以抵触 待测传感器。
本发明一种使用上述具改良式压钳测试座的动态测试设备,包括一分 料装置、一动态测试装置、一机台、多个测试座、及一主控制器。其中, 分料装置选择式地移动于至少一待测传感器承载盘与多个测试座之间。亦 即,分料装置主要用于将待测传感器从待测传感器承载盘中取出置于多个 测试座内,于检测完毕后再将待测传感器从多个测试座中取出并置于待测 传感器承载盘内。机台置于分料装置下方,且在机台上承载有动态测试装 置。
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