[发明专利]一种物理下行控制信道盲检的方法有效
申请号: | 201210390801.4 | 申请日: | 2012-10-15 |
公开(公告)号: | CN103731236B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 黄德球;邢妍;童炜;韩金侠;刘富芝;杜显丰 | 申请(专利权)人: | 普天信息技术研究院有限公司 |
主分类号: | H04L1/00 | 分类号: | H04L1/00 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司11018 | 代理人: | 王民盛,王丽琴 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 物理 下行 控制 信道 方法 | ||
技术领域
本申请涉及移动通信技术领域,特别涉及长期演进项目(LTE,Long TermEvolution)/LTE-A系统,尤其涉及一种物理下行控制信道(PDCCH,Physical DownlinkControl Channel)盲检的方法。
背景技术
3GPP LTE/LTE-A系统中的PDCCH承载了各种类型的下行控制信息。基站根据用户设备(UE)的实际信道条件,通过分配不同的时频资源,采用合理的调制编码,将控制信息发送给UE。UE通常不知道当前PDCCH占用的控制信道元素(CCE,Control Channel Elements)的数目大小,传送的是什么下行控制信息(DCI,Downlink Control Information)格式信息,也不知道自己需要的信息在哪个位置。但是UE知道自己当前在期待什么信息,例如在空闲(Idle)态UE期待的信息是paging,SI;发起随机接入后期待的是随机接入信道(RACH)应答,在有上行数据等待发送的时候期待ULGrant等。对于不同的期望信息UE用相应的无线网络临时标识(RNTI)去和CCE信息做循环冗余校验码(CRC,Cyclic Redundancy Check)校验,如果CRC校验成功,那么UE就知道这个信息是自己需要的,也可以进一步知道相应的DCI格式、调制方式,从而解出DCI内容。这就是所谓的盲检过程。
如果UE按照CCE的顺序依次搜索过去,那么UE侧的计算量是相当可观的,尤其是对于带宽比较大,CCE数目比较多的系统,因此,盲检效率的好坏与系统的数据处理量和反应时间等特性有着很大的联系,盲检效率越高,系统性能就越优越。UE通过PDCCH盲检的方式(不同的CCE集合,不同的搜索空间以及统计意义上尽量少的检测次数)接收下行控制信息,既要防止出现各类DCI误检,又要保证合理的检测门限,降低漏检概率。
现有技术中,PDCCH盲检过程包括:
步骤101:在每个下行子帧,UE对控制区OFDM符号进行检测,对PDCCH信道进行解映射、解调和解扰,解扰后的数据作为盲检的输入数据。
步骤102:计算当前搜索起始位置。
步骤103:根据CCE集合等级L在相应的搜索空间的起始位置读取CCEs,将读取的数据进行解速率匹配、维特比(Viterbi)译码,然后再将得到数据进行RNTI解扰和CRC校验。
步骤104:如果校验成功,则接收数据并结束本流程;否则,放弃此次搜索,继续执行步骤105;
步骤105:判断是否搜索完当前空间中所有的候选PDCCHs,若否,搜索起始位置加L,返回步骤103进行下一次搜索;若是,执行步骤106。
步骤106:判断是否盲检完所有集合等级,若是,盲检结束,否则,进入下一集合等级返回步骤102。
现有技术中的PDCCH盲检过程存在如下缺点:
(1)、不同RNTI解扰存在的误检概率,如基站发送给某用户一个DCI,由于信道的变化和噪声的干扰,其他用户采用不同的RNTI盲检同样有可能CRC校验正确。
(2)、不同长度DCI解速率匹配引入的误检概率,如基站发送给某用户一个DCI,由于信道的变化和噪声的干扰,该用户盲检可能解析出多个不同长度的DCI,且CRC校验都正确。
(3)、低信噪比环境中16bit CRC校验的误判概率,如某用户由于信道的变化和噪声的干扰,盲检结果同样有可能CRC校验正确,并解析出基站没有发送的DCI。
发明内容
本申请提供了一种物理下行控制信道盲检的方法,可以降低误检概率。
本申请实施例提供的一种物理下行控制信道盲检的方法,包括:
根据控制信道元素CCE集合等级L在相应的搜索空间的起始位置读取CCEs;
采用第一长度对读取的数据进行解速率匹配,Viterbi译码,然后再将得到数据进行无线网络临时标识RNTI解扰和循环冗余校验码CRC校验,其中RNTI解扰后得到的下行控制信息DCI称为第一DCI,得到的CRC校验称为第一CRC校验;
若第一CRC校验错误,则认为校验失败并结束本流程;否则,进一步采用第二长度对读取的数据进行解速率匹配,Viterbi译码,然后再将得到数据进行RNTI解扰和CRC校验,其中RNTI解扰后得到的下行控制信息DCI称为第二DCI,得到的CRC校验称为第二CRC校验;
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