[发明专利]一种检测纳米粒子的方法

权利要求书

1.一种检测纳米粒子的方法，该方法包括如下步骤：

（1）使用鞘液通过流体动力学聚焦将待测的样品液体压缩成样品液流，其中，所述样品液流含有待检测的纳米粒子，且所述纳米粒子在所述样品液流中基本上相互隔开并基本上在同一直线上流动；

（2）向所述样品液流照射测量光，其中，所述样品液流中的单个纳米粒子接受测量光照射的时间为0.1-10毫秒，优选为0.2-2毫秒；

（3）将接受测量光照射的所述样品液流的区域定义为探测区，通过透镜成像系统收集由接受测量光照射的区域发出的光信号，使透镜成像系统所收集的光信号通过视场光阑以滤除探测区外的光信号并富集探测区的光信号；

（4）将通过视场光阑富集得到的光信号进行光电信号转换，分别获取所述样品液流中的各个纳米粒子所发出的散射光和/或荧光的电信号；

（5）根据所述电信号对所述纳米粒子进行定性和/或定量分析。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，探测区的体积为1-1000fL，优选为10-100fL，更优选为10-30fL。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述样品液流的直径为0.1-20μm，优选为0.5-5μm，更优选为1-3μm。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法，其中，所述样品液流的流量为0.1-100nL/min，优选为0.5-30nL/min，更优选为1-5nL/min。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述鞘液的流速为0.5-10cm/sec，优选为1-3cm/sec，更优选为1.2-2.5cm/sec。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测量光的光束直径为所述样品液流的直径的1-150倍，优选为2-50倍，更优选为5-20倍。

7.根据权利要求1或6所述的方法，其中，所述测量光的强度为0.05-1000kW/cm²，优选为5-50kW/cm²。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述透镜成像系统为无限远校正光学系统或有限远校正光学系统。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述无限远校正光学系统包括无限远物镜和成像透镜，所述有限远校正光学系统包括有限远物镜。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，视场光阑可以为光电探测器的自身光敏区或光电探测器前添加的孔径光阑。

11.根据权利要求10所述的方法，其中，光敏区面积或孔径光阑的孔径面积为50-5×10⁶μm²，优选为2×10³-2x10⁵μm²，更优选为8×10³-8x10⁴μm²。

12.根据权利要求1、10或11所述的方法，其中，光电信号转换是通过光电探测器来实现的，例如但不限于雪崩光电二极管、光电倍增管、硅光电二极管、电荷耦合元件或互补金属氧化物导体器件，优选是通过雪崩光电二极管来实现的。

13.根据权利要求1所述的方法，其中，所述纳米粒子的粒径为1-1000nm，优选为5-200nm，更优选为10-100nm。

14.根据权利要求1或13所述的方法，其中，所述纳米粒子为人工合成的或天然的纳米粒子，优选所述天然的纳米粒子为原核细胞、细胞器和病毒等生物纳米颗粒中的至少一种。